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資料簡介
環(huán)境應(yīng)力的篩選試驗主要有以下情形：
在電子產(chǎn)品上施加隨機振動及溫度循環(huán)應(yīng)力，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期失效的一種工序或方法.
為發(fā)現(xiàn)和排除不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現(xiàn)早期失效，在環(huán)境應(yīng)力下所做的一系列試驗。
為暴露產(chǎn)品的薄弱部分及質(zhì)量缺陷，在環(huán)境應(yīng)力下所做的一系列試驗。
在環(huán)境應(yīng)力作用下的一系列試驗，目的是暴露薄弱部件及工藝缺陷，以便糾正。
在許多情況下，通過篩選除去“不耐用的”器件，可以提高一個批的整體可靠性。電子器件的篩選通常在二極管或晶片水平，其它元器件的篩選在模塊（或集成模塊）水平。此外，篩選通常還包括在二極管或晶片水平的老化，在模塊（或集成模塊）水平的 溫度循環(huán) 和 老化 。老化能夠保證器件使用時光學(xué)性能穩(wěn)定。對檢測器件潛在的ESD損傷（有時會導(dǎo)致門檻電流或其它我的不正常變化，并且用其它“被支的”測試不能觀測到，例如 高溫烘烤 ）也很有用。溫度循環(huán)有助于消除模塊里的耦光元件的不穩(wěn)定性（對于許多模塊的長期可靠性來說，這是一個關(guān)鍵環(huán)節(jié)）。
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