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DX-X射線三維形貌儀XRT

2024-09-27

產(chǎn)      地:
美國
所在地區(qū):
北京北京市
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簡介

Jordan Valley公司     新設(shè)計的Delta-X是多功能的X射線衍射設(shè)備,可靈活應(yīng)用于材料科學研究、工藝開發(fā)、與生產(chǎn)質(zhì)量控制。Delta-X衍射儀的光源臺和探測臺的光學元件可以      自動化調(diào)控,并采用水平式樣品臺。Delta-X衍射儀可以在常規(guī)衍射模式、高分辨率衍射模式、X射線反射模式之間靈活切換。光學配置的切換完      在菜單式程序控制下由計算機完成,無需手動操作。自動化切換和準直不需要專門人員和操作設(shè)備,并確保每次切換都能達到     佳的光學準直狀態(tài)。

常規(guī)的樣品測量可以通過Delta-X衍射儀,實現(xiàn)部分、乃至完      的自動化運行,自動化測量程序可以依客戶需求進行專門定制。也可采用完      的手動模式操作Delta-X衍射儀,以便發(fā)展新測量方法,研究新材料體系。

數(shù)據(jù)分析或擬合可以作為測量程序的一部分,可實現(xiàn)完      自動化,也可依據(jù)需要單獨進行數(shù)據(jù)分析。 依半導體生產(chǎn)線的需求,將RADS和REFS擬合軟件以自動化模式運行,允許在沒有用戶干擾的情況下自動完成常規(guī)性的數(shù)據(jù)分析,并直接完成數(shù)據(jù)擬合和結(jié)果輸出。RADS和REFS也可以單獨安裝,以便進行更詳細的數(shù)據(jù)分析。

Delta-X衍射儀能滿足科學研究所和技術(shù)開發(fā)中心 不同材料體系的      方位測試需求。

Delta-X 衍射儀的主要特點和優(yōu)勢

n 自動化進行樣品準直、測試、和數(shù)據(jù)分析

n 客戶可以自行設(shè)定測量的自動化程度

n 300mm的歐拉環(huán)支架(Eulerian Cradle)設(shè)計,高精度的樣品定位和掃描

n 300mm的晶片水平式放置,且可以完整mapping

n 100o的Chi軸傾轉(zhuǎn)范圍、無限制范圍的Phi軸旋轉(zhuǎn)空間,可實現(xiàn)極圖和殘余應(yīng)力測試

n 智能化的光學配置切換和準直。依測量需要,自動選擇光學配置并實施光學準直

n 工業(yè)界的設(shè)備控制軟件和數(shù)據(jù)分析軟件

n 高分辨率測角儀,以保證精密且準確的測量

n 高強度的光源臺設(shè)計和光學元件組合,以實現(xiàn)快速測量

n 多方面廣泛的測試技術(shù)和測量參數(shù)

n 由擁有超過30年的高分辨率X射線衍射經(jīng)驗的jie級專家設(shè)計、制造,具有      球客戶經(jīng)驗。


Delta-X衍射儀的特點和優(yōu)勢

自動化控制的光學系統(tǒng):

Delta-X衍射儀的入射束包括多種標準的光學配置模式,以便使光學配置具有充分的靈活性,且易于操作??梢砸罁?jù)測量樣品的材料類型,選擇參考晶體。






n 標準模式:用于所有系統(tǒng),平行束多層膜高反鏡

n 其他四種光學系統(tǒng)可以選擇和安裝:

n Bragg-Brentano (Johannson光學元件)

n Bragg-Brentano (Johannson光學元件)和一個參考晶體(二次反射)

n 兩個獨立的參考晶體(二次反射):參考晶體的材料類型和分辨率有多種設(shè)計供選擇,以便提供與測量     匹配的分辨率。

n 兩個參考晶體,以Bartels模式安裝

n 參考晶體和高反鏡均可自動化切換

n 不需要將參考晶體和高反鏡手動移出衍射儀,保證光學元件不被損壞、不偏離準直狀態(tài)。

n 衍射儀的初始準直易于操作,安      可靠,無需在設(shè)備內(nèi)開啟X射線操作。



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