二手日本電子（SEM）IT-300產(chǎn)品參數(shù)
日本電子掃描電鏡JSM-IT300
高質(zhì)量觀察 細微結(jié)構(gòu)的進一步觀察
? 電子光學系統(tǒng)的高質(zhì)量成像
? 新差動排氣系統(tǒng)擴大了低真空壓力范圍
高通量 快速處理能力支持新一代操作環(huán)境
? 操作直觀的觸控屏界面
? 高通量樣品室
? EDS 集成化，一觸式分析。
高擴展性 多接口擴展了分析范圍
? 多用途樣品室
? 豐富的選配件
EDS、雙 EDS 探測器、WDS、EBSD 等多個預備接口。
二手日本電子（SEM）IT-300電子光學系統(tǒng)的高質(zhì)量成像
JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設計和掃描系統(tǒng)使得不導電樣品的圖像質(zhì)量有所提高
二次電子像
通過高真空二次電子像觀察到的蝴蝶鱗粉。可以用更高的分辨率觀察微觀結(jié)構(gòu)。
背散射電子像
通過在低加速電壓下觀察背散射電子成份像，能觀察到每個碳化鎢顆粒的通道襯度。
掃描系統(tǒng)使低加速電壓下的圖像質(zhì)量更高
幀累積法能制止荷電效應，對易充電的樣品可以輕松地進行觀察。
掃描方式能減輕樣品的帶電，不易受到樣品漂移的影響，即使是容易充電的樣品，能在高倍率下的得到高清的圖像質(zhì)量
低真空模式
差動抽氣系統(tǒng)
差動抽氣系統(tǒng)提高了低真空模式下的圖像質(zhì)量，此外，低真空模式的至大
壓力可高達 650Pa，進一步擴大了應用范圍。
低真空擴展了壓力 ：高達 650Pa
含有大量水分的軟樣品可能會由于樣品室內(nèi)的壓力而無法保持原有的結(jié)構(gòu)，這樣的
樣品不進行特殊處理就無法觀察。但低真空壓力范圍擴展到 650 Pa 就可以進行觀
察，即使沒有特殊處理對樣品的損傷也很小。
低真空二次電子像
即使是低真空模式下，通過低真空二次電子像也能清晰地觀察有機材料的表面細節(jié)。
EDS 集成化 EDS 一觸式分析
JSM-IT300A/LA
JEOL 是世界上一家集開發(fā)、制造和銷售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在觀察和分析過程中，輕觸屏幕即可進行分析。
一觸式分析
在 SEM 的操作界面上，只需輕觸圖標就可以執(zhí)行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一體化集成，提高了通量和易用性。
基本的分析操作，在 SEM 的 GUI 上一觸即成。
在 SEM 的 GUI 上，輕觸屏幕即可執(zhí)行基本的分析操作。
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