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晶圓缺陷檢查燈185LE目視光源185LE-AL現(xiàn)貨

2024-11-12

產(chǎn)      地:
日本
所在地區(qū):
廣東深圳市
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晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨

晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨


185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業(yè)。

高照度照明設(shè)備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源

產(chǎn)品介紹

超高照度鹵素照明裝置185LE-AL

★鋁制燈罩重量1.2公斤

★可以選擇拱形把手和錘子把手

★手型大型面板等檢查

★基本性能與185LE標(biāo)準(zhǔn)型相同

SENA Superbeam185 LE-AL超高照度鹵素照明裝置

?通過孔徑的切換可以選擇最佳的照射直徑。?使用的非球面透鏡可以獲得照度比好的光。?輕型鋁制的安裝燈屋。

?最大照度:照射距離310mm、照射直徑55mmp為400.0001x以上(孔徑10小時)

·與SENA超級光束185LE相同。燈罩重量12kg

·發(fā)光部:直流點(diǎn)燈17V185W塞納原創(chuàng)燈

?照度調(diào)整:可以連續(xù)降低到最大照度的20%以下

日本sena lamp高照度目視檢查燈185LE-AL是適合晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等檢查

主要型號:

高照度照明設(shè)備(表面檢查燈) 185LE-AL是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF(彩色濾光片),觸摸屏制造等行業(yè)。

規(guī)格參數(shù):

大照度

照射距離 310mm、 照射直徑徑 55mmφ 時照度在 400,000 Lux以上)

光源

直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素?zé)?/span>

照度調(diào)整

連續(xù)可調(diào)至大照度的 20%

冷卻方式

強(qiáng)制空冷

使用溫度范囲

0 ~ 40℃

電源電圧

AC 95V ~ AC 260V, 50/60Hz

功率

200W

尺寸

光源

136mm H × 112mm W × 150mm D

電源

229mm H × 90mm W × 250mm D

重量

光源

1.2kg

電源

3.6kg

高照度照明設(shè)備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業(yè)。

 

大照度

照射距離 310mm、 照射直徑徑 55mmφ 時照度在 400,000 Lux以上)

光源

直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素?zé)?/span>

照度調(diào)整

連續(xù)可調(diào)至大照度的 20%

冷卻方式

強(qiáng)制空冷

使用溫度范囲

0 ~ 40℃

電源電圧

AC 95V ~ AC 260V, 50/60Hz

功率

200W

尺寸

光源

136mm H × 112mm W × 150mm D

電源

229mm H × 90mm W × 250mm D

重量

光源

2.3kg

電源

3.6kg

立桿

5.0kg













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