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FPBEN-FSL300-光纖光譜衰減損耗測(cè)試儀

2024-12-26

產(chǎn)      地:
www.felles.cn/sesan.html
所在地區(qū):
上海上海市
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光纖光譜衰減損耗測(cè)試儀FSL300系統(tǒng)提供了準(zhǔn)確的光纖光譜損耗測(cè)量辦法,在光纖質(zhì)量控制過程、材料研究和光纖開發(fā)方面至關(guān)重要。
光纖光譜衰減損耗測(cè)試儀采用國際認(rèn)證的參考試驗(yàn)方法,即切割技術(shù),在所有纖維類型上提供了高測(cè)量精度。由于該技術(shù)的順序性,光纖光譜衰減損耗測(cè)試儀在切割端表現(xiàn)出優(yōu)秀的光學(xué)和機(jī)械穩(wěn)定性和重復(fù)性,以確保最終測(cè)量的置信度。
光纖光譜衰減損耗測(cè)試儀采用模塊化設(shè)計(jì),通過獨(dú)立選擇斬波光源、單色器配置、鎖定放大器、探測(cè)器站和發(fā)射光學(xué)裝置,在異常寬的光譜范圍內(nèi)測(cè)量,顯示出增強(qiáng)的配置靈活性。
光纖光譜衰減損耗測(cè)試儀
光纖光譜衰減損耗測(cè)試儀核心技術(shù)
優(yōu)秀的光學(xué)和機(jī)械穩(wěn)定性
模塊化設(shè)計(jì)和高配置靈活性
簡(jiǎn)單可重復(fù)的測(cè)量過程
光譜衰減的全自動(dòng)測(cè)量和計(jì)算
光纖光譜衰減損耗測(cè)試儀核心特點(diǎn)
準(zhǔn)確評(píng)估光纖光譜損耗
采用國際認(rèn)證的縮減技術(shù)
波長帶可延伸至整個(gè)紫外可見光范圍,并延伸至超過5000nm的紅外范圍
通過PC實(shí)現(xiàn)全自動(dòng),負(fù)責(zé)根據(jù)波長計(jì)算dB/km損耗
高精度評(píng)估各種光纖類型,包括二氧化硅、摻雜玻璃、塑料和光子帶隙光纖
通過使用由恒流電源驅(qū)動(dòng)的夸脫鹵鎢光源來確保光學(xué)穩(wěn)定性
光源和發(fā)射光學(xué)元件牢固地固定在單色儀上,以消除隨時(shí)間變化的機(jī)械不穩(wěn)定性
報(bào)告參數(shù)
光纖光譜衰減 dB/km

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