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電子元件金屬鹽霧腐蝕試驗箱

2025-01-17

產(chǎn)      地:
暫無
所在地區(qū):
上海上海市
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電子元件金屬鹽霧腐蝕試驗箱材質(zhì):

箱體材質(zhì):試驗箱整體為進口PVC增強硬質(zhì)塑料板,表面光潔平整,并耐老化、耐腐蝕;易清洗、無泄露,摒棄玻璃鋼材質(zhì)應時間而產(chǎn)生表面退色纖維化

箱蓋材質(zhì):全透明進口耐沖擊板材制造,便于試驗時觀測試驗樣品受試狀況

鹽水桶材質(zhì):進口PVC板, 超大鹽水箱設(shè)計,杜絕因缺少鹽水而中斷試驗

高壓空氣管材料:銅管或橡膠管

飽和空氣桶:采用進口高級不銹鋼(SUS304)板;采用亨利定律,予以加溫加濕,并提供實驗所需之濕度

(飽和空氣桶作用:針對壓縮進去的空氣加熱、加濕以及油過濾)


電子元器件鹽霧腐蝕試驗箱設(shè)計執(zhí)行標準:

3.1 GB/T10587-2006   鹽霧試驗箱技術(shù)條件  (本公司為主要起草單位之一)

3.2 GJB150.11-86     設(shè)備環(huán)境試驗方法 鹽霧試驗

3.3 GB/T2423.17-2000 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法

3.4 GB/T10125-1997  人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗

3.5 QC/T 732-2005   乘用車強化腐蝕試驗方法

3.6 滿足某汽車公司車身靜態(tài)鹽霧腐蝕試驗程序的技術(shù)要求

3.7 滿足某汽車公司GMW 8738《試驗場腐蝕試驗說明》的技術(shù)

4.驗收標準:

GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗設(shè)備


產(chǎn)品規(guī)格:

產(chǎn)品型號

SS-FYW-90D

SS-FYW-120D

SS-FYW-160D

SS-FYW-200D

內(nèi)箱尺寸

D*W*H(mm)

900*620*600

1200*760*1000

1600*760*1000

2000*760*1100

外形尺寸

D*W*H(mm)

2450*1553*1430

2830*1560*1830

3230*1560*1830

3630*1560*1930

主要技術(shù)參數(shù)

(1)溫度范圍:RT~+80℃;

(2)溫度波動度:≤±0.5℃;

(3)溫度均勻度:≤±2℃;

(4)溫度偏差:≤±2℃;

(5)試驗室溫度:鹽水試驗法(NSS ACSS)35℃±1.0℃;

耐腐蝕試驗法(CASS)50℃±1.0℃;

(6)壓力桶溫度:鹽水試驗法(NSS ACSS)47℃±1.0℃;

耐腐蝕試驗法(CASS)63℃±1.0℃;

(7)壓縮空氣壓力:1.00±0.01kgf/cm2;

(8)噴霧量:1.0~2.0ml/80cm2/h(至少收集16小時,取平均值)。

滿足標準

GB/T 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備;

GB/T 10587-2006 鹽霧試驗箱技術(shù)條件;

GJB 150.11A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第11部分:鹽霧試驗;

GB/T 10125-2021 人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗;

GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗 Ka:鹽霧;

以上標準和規(guī)范如果被新標準和規(guī)范替代,執(zhí)行新的標準和規(guī)范。

















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