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AP-KS-225-電路板快速溫變試驗箱

2025-01-21

產(chǎn)      地:
東莞市常平鎮(zhèn)
所在地區(qū):
廣東東莞市
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電路板快速溫變試驗箱是一種用于模擬電路板在端溫度快速變化環(huán)境下的工作性能的測試設(shè)備。這種試驗箱能夠快速地調(diào)整內(nèi)部溫度,從而在短時間內(nèi)模擬電路板可能遇到的高溫、低溫以及溫度急劇變化的情況。

主要應(yīng)用包括:

可靠性測試:通過模擬電路板在端溫度條件下的工作情況,評估其可靠性和穩(wěn)定性。這種測試可以幫助制造商識別潛在的設(shè)計或制造缺陷,從而改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量。

內(nèi)箱尺寸:500*750*600mm      (W* H *D)

外型尺寸(約):1050*1850*1100 mm  (W* H *D)

開孔1:開于設(shè)備 左側(cè) 直徑200mm*1個用于裝客戶的玻璃,做好卡玻璃的卡槽;孔中心距地面1150mm高,并配加熱除霜裝置

開孔2:直徑50mm,位于左側(cè)開直徑200的孔下面用來接線路使用

加玻璃門:玻璃門上開2個直徑130mm 孔

溫度范圍:-60℃~+150℃(-40~+80℃快速升降)(水冷式)

濕度范圍:20 %~98 % R.H

降溫速率:非線性升溫5℃/min(空載)

升溫速率:非線性降溫5℃/min(空載)電路板快速溫變試驗箱

壽命預(yù)測:通過快速溫變循環(huán),可以加速電路板的老化過程,從而預(yù)測其在正常使用條件下的壽命。這對于評估產(chǎn)品生命周期和制定維護(hù)計劃非常重要。

質(zhì)量控制:在電路板生產(chǎn)過程中,快速溫變試驗箱可以用于檢測每批產(chǎn)品的性能一致性,確保產(chǎn)品符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

研發(fā)支持:在電路板設(shè)計階段,使用快速溫變試驗箱可以幫助工程師了解設(shè)計在不同溫度條件下的性能表現(xiàn),從而優(yōu)化設(shè)計方案。

特點通常包括:

快速升降溫:能夠在短時間內(nèi)實現(xiàn)溫度的快速升高和降低,以模擬實際使用中可能遇到的溫度變化。

精確控溫:采用先進(jìn)的溫度控制系統(tǒng),確保試驗箱內(nèi)部溫度的穩(wěn)定性和精確性。

大容量:試驗箱內(nèi)部通常具有足夠的空間,可以容納多個電路板同時進(jìn)行測試。

安全保護(hù):具備多種安全保護(hù)措施,如過溫保護(hù)、過流保護(hù)等,確保測試過程的安全可靠。

數(shù)據(jù)記錄與分析:能夠自動記錄測試過程中的溫度變化和電路板性能數(shù)據(jù),并提供數(shù)據(jù)分析功能,幫助用戶更好地了解測試結(jié)果。

總之,電路板快速溫變試驗箱是電子制造行業(yè)中重要的測試設(shè)備之一,它能夠幫助制造商評估電路板在不同溫度條件下的性能表現(xiàn),提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。


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