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美德聲推出的ELM-XS-I 是一款堅(jiān)固耐用的多功能 LIBS 激光成像分析系統(tǒng) 采用激光技術(shù)，可控制和探索當(dāng)今和未來材料的化學(xué)特性；在微觀尺度上探索元素的空間分布。提供一種可視化材質(zhì)的新方法。
ELM-XS-I 高性能激光成像分析系統(tǒng)，專為高精度圖像捕捉和處理設(shè)計(jì)，適用于工業(yè)檢測、醫(yī)學(xué)成像、科學(xué)研究等領(lǐng)域。其核心優(yōu)勢在于高分辨率、快速成像和出色的圖像質(zhì)量。
主要特點(diǎn)
高分辨率：支持高達(dá)4K或更高的分辨率，確保圖像細(xì)節(jié)清晰。
快速成像：高速圖像捕捉，適合動(dòng)態(tài)場景。
低噪聲：先進(jìn)的降噪技術(shù)，提升圖像質(zhì)量。
寬動(dòng)態(tài)范圍：適應(yīng)不同光照條件，確保明暗細(xì)節(jié)。
多光譜成像：支持可見光、紅外、紫外等多光譜成像。
模塊化設(shè)計(jì)：便于集成到不同系統(tǒng)中。
技術(shù)規(guī)格
分辨率：3840 x 2160（4K）
幀率：60fps（可定制更高幀率）
傳感器類型：CMOS/CCD
動(dòng)態(tài)范圍：>120dB
光譜范圍：400nm - 1000nm（可擴(kuò)展）
接口：USB 3.0, HDMI, GigE
功耗：<10W
工作溫度：-10°C 至 50°C
應(yīng)用領(lǐng)域
工業(yè)檢測：用于生產(chǎn)線上的缺陷檢測和尺寸測量。
醫(yī)學(xué)成像：應(yīng)用于內(nèi)窺鏡、顯微鏡等醫(yī)療設(shè)備。
科學(xué)研究：用于天文觀測、生物研究等。
安防監(jiān)控：用于高精度監(jiān)控和識(shí)別。
軟件支持
圖像處理軟件：提供實(shí)時(shí)處理、分析和存儲(chǔ)功能。
SDK：支持多種編程語言，便于二次開發(fā)。
兼容性：支持Windows、Linux、macOS等操作系統(tǒng)。
產(chǎn)品優(yōu)勢
高性能：滿足高精度和高速度需求。
靈活性：模塊化設(shè)計(jì)適應(yīng)多種應(yīng)用場景。
易用性：提供全面的軟件支持和開發(fā)工具。
美德聲推出的ELM-XS-I 高性能激光成像分析系統(tǒng)憑借其高分辨率、快速成像和低噪聲等特性，成為工業(yè)、醫(yī)學(xué)和科研領(lǐng)域的理想選擇。其模塊化設(shè)計(jì)和廣泛兼容性，進(jìn)一步提升了其應(yīng)用價(jià)值。
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