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SEM3200 是一款綜合能力優(yōu)秀的通用型立式鎢燈絲掃描電

鏡。電子槍雙陽(yáng)極結(jié)構(gòu)，保證了低電壓下的分辨率和

更好的圖像信噪比。另外有諸多的可選配附件選擇，使得

SEM3200 成為了一款應(yīng)用廣泛的綜合分析儀器。

低電壓下智能輔助消像散* 雙陽(yáng)極結(jié)構(gòu)預(yù)對(duì)中鎢燈絲* 支持低真空模式豐富的擴(kuò)展能力

中間陽(yáng)極處于韋氏帽和陽(yáng)極之間，在低壓下，可提高電子束的拔出效率，分辨率可提升10%，信噪比可提升30%。

碳材料樣品，低電壓下，穿透深度較小，可以獲取樣品表面真實(shí)形貌，細(xì)節(jié)更豐富。

高分子纖維類樣品，高壓會(huì)對(duì)樣品存在損傷，低電壓還原無(wú)損表面細(xì)節(jié)。