EX-7600 SDD LE（二次靶輕元素材料分析儀）

擁有技術(shù)的廣角幾何（WAG）,400W X光管，60 kV發(fā)生器，8個二次靶，8款濾光片，高分辨率硅漂移探測器*輕元素檢測的要求。X-7600SDD LE的問世使得元素周期表中所有元素的檢測都能得到*結(jié)果。
X-7600SDD LE 在帶有二次靶技術(shù)的能量色散型X射線熒光分析儀領(lǐng)域中，引進技術(shù)，重新定義了“”的概念。 它為分析調(diào)查和開發(fā)應(yīng)用提供了高性能的解決方案，同時，為商業(yè)實驗室分析提供了一種低成本、高效益的選擇。
以高精度、sub-ppm檢測精度為特色，在環(huán)保、地質(zhì)和貴金屬檢測領(lǐng)域中，不管是輕元素還是重元素分析，X-7600SDD LE與其他分析儀器相比都具有更加的檢測性能。這是研究與開發(fā)領(lǐng)域中的系統(tǒng)。
X-7600SDD LE 提高了輕元素檢測的精度，例如：F、Ne、Na

X-7600SDD LE，使用*的SDD探測器，具有低電子噪音和高計數(shù)率的特點，與 Si-Li 探測器（液氮冷卻）相比具有更高的分辨率，能更快的得到檢測結(jié)果。
8個二次靶為快速精確的定量分析提供了zui大的靈敏度，即使是是在一些復(fù)雜的基質(zhì)中，例如：合金、塑料和地質(zhì)樣品。可定制的靶為了達到ppb級的檢測極限。
X-7600 LE 能檢測液體、固體、漿狀、粉末狀，片狀樣品，樣品室能容納不同形狀和尺寸的樣品。

F（9） - U（92） ——使用極薄的高分子聚合物探測窗
ppb - *
Rh – 陽極標(biāo)準(zhǔn) （mo, W, ag, cr 可選）.
60kV, 400W. 10-5000µa （in 1µa increments）.
直接激發(fā)或二次靶激發(fā)
室溫條件下精確到0.1%
高分辨率硅漂移探測器（SDD），極薄的高分子聚合物探測窗，熱電冷卻，避免使用液氮冷卻
能在1.6us的峰優(yōu)化操作時間內(nèi)達到123ev的*分辨率，出色的結(jié)果可以通過大范圍的輸入計數(shù)率
傳送，在更短的峰操作時間內(nèi)，高計數(shù)率能被處理。
10 個位置 （18 個位置可選）.
空氣/真空/ 氦氣.
8款軟件可選.
8款軟件可選: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.
 115 Vac /60 Hz 或 230 Vac /50 Hz.
多信道分析
廣角幾何（WAG）
未包裝 85 x 85 x 105, 含包裝 145 x 95 x 135.
150kg （凈重）, 200kg （總重）.
直徑28cm, H=5cm.
集成計算機
nEXt， 運行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及分析軟件包外加初級基本參數(shù)算法。
樣品激發(fā)，探測，樣品操控，數(shù)據(jù)采集及處理的自動控制。
逃逸峰及背底的自動去除，自動重疊峰解析，圖解式統(tǒng)計報告。
考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法（六種模式）?？傆嫈?shù)，凈計數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。
用戶可自定的數(shù)據(jù)報表及打印形式
１８樣品的旋轉(zhuǎn)式自動給樣系統(tǒng)，樣品旋轉(zhuǎn)機制，專業(yè)的基本參數(shù)算法。