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SP-601型方型四探針探頭

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方型四探針探頭

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產(chǎn)品名稱:SP-601型方型四探針探頭

    SP-601型方型四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭,于測量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
 
◆ 特性及規(guī)格
 
1
 特制之手握式探筆
2
 球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜不被損傷
3
 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4
 探頭使用壽命長
5
 探針間距:1.59mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
 
◆ 規(guī)格
 
型號
(Model)
曲率半徑
(Radius)
壓力
(loads)
探針間距
(spacing)
探針排列
(Arrangement)
SP-601
0.5mm
100g
1.59mm
方形



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