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SPD 2000 多功能X射線(xiàn)衍射儀(Multi Functional X-ray Diffractometer)
- 公司名稱(chēng) 興和儀器(上海)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) SPD 2000
- 產(chǎn)地 新科
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 1068
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SPD 2000 多功能X射線(xiàn)衍射儀儀器簡(jiǎn)介:
用途:定性及定量分析,殘余應(yīng)力分析,薄膜,質(zhì)地,非常規(guī)環(huán)境分析,奧氏體定量分析,晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算
多功能X射線(xiàn)衍射儀 技術(shù)參數(shù):
? 常規(guī)的定性和定量分析
? 殘余應(yīng)力分析
? 薄膜,質(zhì)地
? 非常規(guī)環(huán)境分析
? 殘留奧氏體定量分析
? 晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算
應(yīng)用領(lǐng)域
? 環(huán)境,土壤/巖石,粘土,礦石,陶瓷
? 水泥,玻璃,石油,催化劑,聚合物
? 農(nóng)業(yè)科學(xué),生物科學(xué),化學(xué),醫(yī)藥,化妝品,涂料
? 核工業(yè),鋼鐵,紡織,電子和磁性材料
多功能X射線(xiàn)衍射儀 主要特點(diǎn):
SPD 2000為廣泛的分析需求提供了解決方案,從常規(guī)的定性和定量分析,到殘余應(yīng)力分析,薄膜,質(zhì)地,非環(huán)境分析,殘余奧氏體定量分析,晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算。
SPD 2000的特點(diǎn)
多功能X射線(xiàn)衍射儀
有原位微處理器的超高穩(wěn)定性的X射線(xiàn)發(fā)生器,微處理器可通過(guò)電腦串行接口控制
帶有可旋轉(zhuǎn)管的管罩,可以使用點(diǎn)聚焦或行聚焦
調(diào)焦Kα1單色器可以得到高亮度和分辨率
使用Max-FluxTM光學(xué)系統(tǒng)的平行光束光學(xué)
透射模式和反射模式之間可以自動(dòng)轉(zhuǎn)換
高精度,高速測(cè)角儀
適合Ag,Cr, Fe, Cu, Co , Mo 輻射的二級(jí)單色器
填充氙氣的正比,閃爍計(jì)數(shù)器,線(xiàn)性或彎曲的位敏檢測(cè)器(PSD)
非常規(guī)環(huán)境分析,低溫或高溫附件
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系統(tǒng),在32位環(huán)境下進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和儀器控制
包括Rietveld精修的晶體結(jié)構(gòu)軟件