NanoIR平臺(tái)是由美國Anasys儀器公司所推出的一款基于AFM探針的檢測(cè)工具，它可以在納米尺度下揭示試樣的化學(xué)組成。這項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室解決方案集成了紅外光譜和原子力顯微鏡的核心技術(shù)，使獲得的紅外光譜在空間分辨率上大大超越光學(xué)衍射極限。

除了可以揭示化學(xué)組成，nanoIR系統(tǒng)還可以對(duì)試樣的局部形貌，機(jī)械性能，熱學(xué)性能進(jìn)行高分辨率表征。該系統(tǒng)潛在的應(yīng)用范圍橫跨聚合物學(xué)，材料科學(xué)，生命科學(xué)以及對(duì)結(jié)構(gòu)和性能關(guān)系深入研究的相關(guān)領(lǐng)域。

NanoIR

產(chǎn)品照片

主要技術(shù)參數(shù)

多功能檢測(cè)

儀器功能

NanoIR軟件

產(chǎn)品圖片

NanoIR平臺(tái)集成了連續(xù)可調(diào)紅外光源和AFM檢測(cè)模塊，能夠綜合形貌分析和光譜測(cè)量對(duì)試樣進(jìn)行表征

如上圖所示，試樣固定在硒化鋅棱鏡上。用戶可以通過視頻顯微鏡快速發(fā)現(xiàn)其感興趣的特征點(diǎn)。AFM探針針尖能夠?qū)υ嚇有蚊策M(jìn)行高分辨率表征，并檢測(cè)試樣的局部紅外吸收。

如上圖所示，旋起AFM測(cè)量頭，即可輕松放入試樣。試樣更換方便，無需特殊工具。

主要技術(shù)參數(shù)

參數(shù)可能會(huì)有所變更

多功能檢測(cè)

NanoIR系統(tǒng)可以為您提供一個(gè)包含了表面形貌，分子光譜，機(jī)械性能和熱學(xué)性能在內(nèi)的全面的掃描成像分析。高分辨率形貌分析由AFM測(cè)試得到， 而局部化學(xué)表征則由增強(qiáng)光熱誘導(dǎo)共振（PTIR）技術(shù)的紅外光譜完成。PTIR技術(shù)也支持接觸共振頻率檢測(cè)同時(shí)對(duì)可各種材料的成像分析。

（A）EAA和尼龍多層聚合物的AFM圖像。（B）界面處的線性光譜掃描結(jié)果，顯示了CH和NH的吸收峰。（C）化學(xué)組成和機(jī)械性能的同時(shí)表征。綠色曲線顯示了在2900cm^-1到2950cm^-1之間CH鍵吸收強(qiáng)度，而藍(lán)色曲線則顯示了界面處機(jī)械剛度的相對(duì)變化。（D）納米熱分析模塊測(cè)試（nanoTA）結(jié)果表明尼龍和EAA存在不同的軟化溫度。

儀器功能

PET和尼龍復(fù)合材料的多功能檢測(cè)結(jié)果，包括AFM形貌測(cè)試，化學(xué)光譜信息，化學(xué)掃描成像和納米熱分析等。

NanoIR軟件

美國Anasys儀器公司的nanoIR軟件能夠很容易獲取納米尺度下吸收光譜。首先，選定試樣的一個(gè)區(qū)域，采集AFM圖像，然后點(diǎn)擊你希望獲取紅外光譜的位置。該軟件能夠自動(dòng)記錄你所點(diǎn)擊的位置，從而讓空間形貌和光譜信息之間的變得非常容易。同時(shí)，光譜也很容易被輸送到第三方光譜分析軟件。