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Surfix F鐵基統(tǒng)計(jì)型膜厚儀|PHYNIX膜厚儀
技術(shù)參數(shù): 測(cè)量范圍 0-1500µm,0 - 60mils 誤差 ±(1µm+1%讀數(shù)) 分辨率 0.1µm或小于讀數(shù)的2% 顯示 背光,字母加數(shù)字,10mm高,4位數(shù)字顯示 基體zui小面積 5mmX5mm 基體zui小曲率 凸面:1.5mm 凹面:5mm 基體zui小厚度 F型:0.2mm ,N型: 50µm 校準(zhǔn) 廠家校準(zhǔn),零校準(zhǔn),校準(zhǔn)箔校準(zhǔn) 數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)(*統(tǒng)計(jì)型) 讀數(shù)個(gè)數(shù)(zui多9999個(gè)),平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,zui大值和zui小值 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)(*統(tǒng)計(jì)型) zui多200個(gè)測(cè)量數(shù)值,可單獨(dú)調(diào)出 數(shù)據(jù)值(*統(tǒng)計(jì)型) 上下限可調(diào),聲音報(bào)警 數(shù)據(jù)接口 紅外通訊,IrDA標(biāo)準(zhǔn) 環(huán)境溫度/表面溫度 0-50℃/60℃ (可選配150℃) 電源 兩節(jié)1.5伏五號(hào)堿性電池 儀器尺寸 137x66x23mm 符合標(biāo)準(zhǔn) DIN,ISO,ASTM,BS
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