ZK-ESS-408L 快速溫變低濕試驗(yàn)箱

快速溫變低濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)要求

1.MIL-STD-2164、GJB-1032-90電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選：

高溫：150℃；低溫：-60℃；溫變率：5℃/min；循環(huán)數(shù)：10～12次；循環(huán)時(shí)間：3h20min。

2.MIL-344A-4-16電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選：

高溫：71℃；低溫：-54℃；溫變率：5℃/min；循環(huán)數(shù)：10次；循環(huán)時(shí)間：3h20min。

3.MIL-2164A-19電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選：

高溫：150℃；低溫：-60℃；溫變率：10℃/min；循環(huán)數(shù)：10次；循環(huán)時(shí)間：工作室達(dá)到溫度10℃時(shí)。

4.NABMAT-9492美軍*制造篩選：

高溫：55℃；低溫：-53℃；溫變率：15℃/min；循環(huán)數(shù)：10次；循環(huán)時(shí)間：工作室達(dá)到溫度15℃時(shí)。

5.GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選：

高溫：85℃；低溫：-55℃；溫變率：15℃/min；循環(huán)數(shù)：≧25次；循環(huán)時(shí)間：工作室達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間。

6.GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選：

高溫：70℃；低溫：-55℃；溫變率：5℃/min；循環(huán)數(shù)：≧10次；循環(huán)時(shí)間：工作室達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間。

7.筆記型計(jì)算機(jī)：

高溫：85℃；低溫：-40℃；溫變率：15℃/min；循環(huán)數(shù)：≧10次；循環(huán)時(shí)間：3h20min。

快速溫變低濕試驗(yàn)箱型號(hào)和規(guī)格選擇如下

 型 號(hào)        內(nèi)箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

可按需求尺寸非標(biāo)定制......

快速溫變?cè)囼?yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)方法。

2.GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)方法。

3.GJB150.9A-2009 濕熱試驗(yàn)方法。

4.GJB1032-90環(huán)境應(yīng)力篩選方法。

5.GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法。

6.GBT2424.5-2006 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)。

7.GB/T10586-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

8.GB2423.22-2008 溫度變化速率試驗(yàn)方法。

9.MIL-STD-2164電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選方法。

10.GB/T10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

11.GBT2424.7-2006 (帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱測(cè)量。

12.MIL-2164A-19電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法。

13.GBT2424.6-2006 溫度濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)。

14.GB/T5170.18-2005 試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法。

15.GJB234-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選方法。

16.GB/T2423.3-2008(1EC68-2-3) 恒定濕熱試驗(yàn)方法。

17.GB2423.1-2008/1EC6008-2-1-2007 低溫試驗(yàn)方法。

18.G/BT2423.4-2008/1EC6008-2-30:2005 交變濕熱方法。