BA 100 bowman美國膜厚測(cè)試儀

bowman美國膜厚測(cè)試儀

俗稱鍍層測(cè)厚儀，膜厚測(cè)試儀，X-RAY膜厚儀等等.
用途：檢測(cè)金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質(zhì)，減少電鍍成本浪費(fèi). 
產(chǎn)品副名稱：應(yīng)用范圍較廣的標(biāo)準(zhǔn)型鍍層厚度測(cè)量儀. 

* 技術(shù)指標(biāo)型號(hào)：元素分析范圍從鋁（AL)到鈾（U）。
* 一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素或五層以上鍍層。
* 元素分析檢出限可達(dá)2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度zui薄可達(dá)0.005um，一般在20um內(nèi)（不同材料有所不同）。
* 小孔準(zhǔn)直器（zui小直徑0.1mm），測(cè)試光斑在0.2mm以內(nèi)。
* 高精度移動(dòng)平臺(tái)（定位精度小于0.005mm）。
* 任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
* 尺寸：576 x 495x545 mm
* 重量：90 kg
* 標(biāo)準(zhǔn)配置開放式樣品腔。
* 精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
* 雙激光定位裝置。
* 鉛玻璃屏蔽罩。
* Si-Pin探測(cè)器。
* 信號(hào)檢測(cè)電子電路。
* 高低壓電源。
* X光管。
* 高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)。
: 舒翠 
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