Agilent光學(xué)反射儀器儀表

Agilent光學(xué)反射儀器儀表

得米特（天津）科技有限公司代購美國Agilent，Agilent光時(shí)域反射計(jì)，Agilent光時(shí)域反射儀

美國Agilent公司，專業(yè)生產(chǎn)光學(xué)反射儀器儀表，為確認(rèn)網(wǎng)絡(luò)的完好性和在潛在問題演變成故障以前進(jìn)行有效識(shí)別，您需要快速獲得準(zhǔn)確信息。同時(shí)，為了面對(duì)不斷增長(zhǎng)的市場(chǎng)壓力，您需要完整可信的網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)以便隨時(shí)規(guī)劃新的業(yè)務(wù)。

Agilent公司提供可以按所需測(cè)試距離、速度和精度對(duì)光纖進(jìn)行測(cè)量和文檔管理的快速、簡(jiǎn)便、精確的測(cè)試和監(jiān)測(cè)方案，幫助您在各種光纖網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)測(cè)試業(yè)務(wù)上取得成功。

     產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
·測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍從18dB、26dB、30dB、35dB直至zui大45dB
·高速測(cè)試可節(jié)省大量時(shí)間
·高精度測(cè)試便于在網(wǎng)絡(luò)各個(gè)細(xì)小部分進(jìn)行特性分析
·高距離分辨率和小的事件和衰減盲區(qū)
·多種測(cè)試模塊和功能子模塊任意組合
·使用OTDR加多波長(zhǎng)計(jì)或光譜分析儀構(gòu)成DWDM（密集波分復(fù)用）測(cè)試方案
·所有的測(cè)試模塊在所選波長(zhǎng)上都具有連續(xù)光源的功能
·*的交通探測(cè)功能自動(dòng)探測(cè)并保護(hù)對(duì)端光端機(jī)不受損壞
·友好的中文操作界面和中文在線幫助
·單鍵操作便于快速自動(dòng)測(cè)試和分析
·交流和電池操作任意選擇
·輕巧、堅(jiān)固、便攜的結(jié)構(gòu)使儀表在各種環(huán)境下均方便使用

   技術(shù)指標(biāo)：
模塊——所有單模模塊  所有多模模塊 
事件盲區(qū)：5m 3m@5ns；衰減盲區(qū)：10m@1310nm/12m@1550nm/14m@1625nm  10m@10ns；
距離準(zhǔn)確度偏移誤差：刻度誤差 采樣誤差：±1m ±10^-4 ±0.5采樣間隔；
損耗/反射系數(shù)準(zhǔn)確度 背向散射風(fēng)險(xiǎn)
反射系數(shù)測(cè)量：±0.05dB，±2.0dB 
橫軸參數(shù)——起點(diǎn)：0Km - 400Km（可非0）；讀數(shù)分辨： 0.1m；zui小采樣間隔：8cm
縱軸參數(shù)——  數(shù)分辨率：0.001dB；
自動(dòng)設(shè)置和分析功能：提供 儀器設(shè)置：可儲(chǔ)存和調(diào)用用戶自定義設(shè)置
光接口——光連接器：（選件）HMS-10，F(xiàn)C/PC，DIN  47256，ST，F(xiàn)C/APC，雙錐面，SC等用戶可任意更換。

得米特（天津）科技有限公司自成立以來立足于行業(yè)發(fā)展水平，以客戶需求為導(dǎo)向，以產(chǎn)品質(zhì)量為基礎(chǔ)，不斷的降低客戶采購成本。咨詢！
 

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