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熒光X線膜厚儀

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測厚儀

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可程式恒溫恒濕、高低溫濕熱交變、冷熱沖擊、PCT、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)機(jī)、振動(dòng)試驗(yàn)臺、破裂強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)、拉力試驗(yàn)機(jī)、UV紫外線


特點(diǎn):

中文視窗操作測量系統(tǒng)
解析度0.001um, zui小測量面積0.1mm。
可測量合金層之厚度和組成比例
可測量兩層以上鍍層之個(gè)別厚度
藉由光譜分析可判定被測物之元素
適用對象:1C導(dǎo)線架,封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零
件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。



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