缺陷分析－超聲波掃描顯微鏡（ＳＡＭ）
- 公司名稱 深圳賽普思科技有限公司
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- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2017/7/16 12:08:19
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聲學(xué)顯微鏡，學(xué)名是：掃描聲學(xué)顯微鏡Scanning Acoustic Microscope，簡(jiǎn)稱SAM。它是基于聲波脈沖反射和透射原理工作的，只要聲波信號(hào)在樣品表面或者內(nèi)部遇到聲波阻抗（如遇到孔隙、氣泡等），就會(huì)發(fā)生反射。
SAM主要用于材料淺表層結(jié)構(gòu)分析、材料力學(xué)性能的檢測(cè)、無損檢測(cè)等。
- 雜質(zhì)顆粒、夾雜物、沉淀物等
- 裂紋
- 分層缺陷、附著物以及其他夾雜物
- 空洞、氣泡、空隙等
SAM與X-RAY的主要區(qū)別
| SAM | X-RAY |
成像模式 | 反射模式和穿透模式 | 穿透模式 |
原理 | 聲波脈沖反射和透射 | 基于材料密度的差異 |
材料的穿透性 | 密集和疏松的固體都能 | 金屬材料穿透較差 |
對(duì)空氣的敏感性 | 空氣能阻斷超聲波傳輸，確定焊接層、粘接層、填充層、涂鍍層、結(jié)合層的完整是SAM*的性能 | 對(duì)空氣不是非常敏感，裂紋虛焊等不能被觀測(cè)到 |
材料的無損性 | 使用于MHz超聲波，不會(huì)產(chǎn)生氣穴，*無損 | 較長(zhǎng)時(shí)間檢測(cè)，可能會(huì)產(chǎn)生損壞和隨機(jī)的電子錯(cuò)誤 |
所得圖像 | 可以分層展現(xiàn)材料內(nèi)部一層一層的圖像 | 整個(gè)樣品厚度的一個(gè)合成圖像 |
儀器簡(jiǎn)介：德國(guó)KSI-SAM
一、1990年，世界上*個(gè)做出頻率超過GHz的超1990年，世界上*個(gè)做出頻率超過GHz的超聲波掃描顯微鏡，到目前為
止，其他同類儀器公司只能做到200MHz 左右；
二，1991年，世界上*個(gè)在超聲波顯微鏡中做出GHz V(z), V(f)定量測(cè)量系統(tǒng)；
三，1996年，推出世界上*臺(tái)數(shù)字超聲波顯微鏡；
四，1998年，世界上*個(gè)做出帶有球面透鏡的超聲波換能器；
五，2002年，世界上*個(gè)在超聲波顯微鏡上實(shí)現(xiàn)材料阻抗測(cè)量；
六，2004年，世界上*個(gè)在超聲波顯微鏡掃描控制平臺(tái)中采用空氣墊懸浮線性馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的超高精度X-Y掃描系統(tǒng)；
七，2004年，世界上*個(gè)實(shí)現(xiàn)超聲波顯微鏡自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，并受到保護(hù)；
八，2004年，世界上*個(gè)實(shí)現(xiàn)多探頭同時(shí)掃描大件樣品的超聲波顯微鏡系統(tǒng)，并受到保護(hù)。
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