賽默飛熱電 iCAP 6300 ICP 等離子發(fā)射光譜儀

賽默飛熱電 iCAP 6300 ICP 等離子發(fā)射光譜儀介紹

賽默飛熱電 iCAP 6300 ICP 等離子發(fā)射光譜儀*的智能攝譜功能可拓展鋼鐵、有色、地質(zhì)等復(fù)雜基體用戶的使用范圍。在原料實(shí)時(shí)檢測(cè)、產(chǎn)品質(zhì)量控制以及日后樣品信息再分析有著廣闊的應(yīng)用空間。

分析樣品的同時(shí)，智能獲得樣品中所有譜線的“指紋照片”,并與分析數(shù)據(jù)同時(shí)保存和調(diào)出
根據(jù)”指紋照片”：
① 計(jì)算機(jī)自動(dòng)檢索可能存在的元素--定性分析。
② 與標(biāo)準(zhǔn)譜圖想比較，自動(dòng)給出半定量結(jié)果，誤差小于25%。
③ 照片相減，快速比較兩個(gè)樣品的差異或扣除空白,扣除基體。
二維或三維譜圖顯示，更易了解譜線周圍的干擾情況。

1. 定量、半定量分析

l 可方便地選擇元素的任意一條譜線或幾條譜線同時(shí)進(jìn)行定量分析
l 由于檢測(cè)器是連續(xù)波長(zhǎng)覆蓋，背景選擇點(diǎn)不受限制
l 在獲得分析數(shù)據(jù)的同時(shí)，給出個(gè)分析譜線的譜圖
l 可方便進(jìn)行數(shù)據(jù)再處理，包括標(biāo)準(zhǔn)曲線
l 采用一元素多達(dá)5條譜線的半定量分析軟件,數(shù)據(jù)可靠

2.背景校正，干擾因子校正，結(jié)合譜線選擇的靈活性，能滿足各種樣品的分析要求

綜上所述，熱電 iCAP6300*的智能攝譜功能不僅能滿足合金材料所含高低含量元素的同時(shí)分析，還能進(jìn)行若干個(gè)樣品成分的比對(duì)、未知樣品剖析，樣品含量的半定量分析等拓展功能。

八大特點(diǎn)

經(jīng)驗(yàn)：熱電ICP6300的八大特點(diǎn)（與瓦里安,PE對(duì)比）

1、熱電公司是世界大的分析儀器公司；世界*臺(tái)ICP光譜儀的誕生地；世界大的ICP制造商；在和中國(guó)擁有多的用戶群，其中基體復(fù)雜行業(yè)如地質(zhì)、鋼鐵、有色金屬、石化、材料等占到90%以上市場(chǎng)；完善的售后服務(wù)：在中國(guó)有4個(gè)辦事處，6個(gè)維修站30名專業(yè)維修工程師為全國(guó)600多家服務(wù)，真正做到24小時(shí)內(nèi)維修響應(yīng)；專職售后服務(wù)工程師為用戶提供快速周到的服務(wù)。

2、真正的全譜直讀型ICP光譜儀，166-847nm，寬的波長(zhǎng)測(cè)量范圍，真正全譜連續(xù)覆蓋。
可測(cè)定波長(zhǎng)范圍內(nèi)的任意一條譜線，譜線選擇靈活，可方便地實(shí)現(xiàn)一元素多條譜線同時(shí)測(cè)定或高含量元素用弱譜線，微量元素用靈敏線的優(yōu)秀分析方式。自動(dòng)拓寬線性范圍，實(shí)現(xiàn)樣品中痕量、主量一次同時(shí)測(cè)定。背景校正點(diǎn)選擇靈活
PE2100：?jiǎn)蔚罀呙栊?br />PE5300：235個(gè)通道的多道型

3、第六代高效率CID檢測(cè)器，291，600個(gè)獨(dú)立檢測(cè)單元，真正二維分光，獲得三維譜圖
CID特性：真正全譜檢測(cè)；*“溢出”；隨機(jī)存取積分方式；非破壞性讀取
CID檢測(cè)器的強(qiáng)大優(yōu)勢(shì)：1、每個(gè)檢測(cè)單元獨(dú)立檢測(cè)，獨(dú)自選擇優(yōu)秀暴光時(shí)間，同時(shí)獲得痕量元素的高靈敏度和高含量元素的高精度2、全譜檢測(cè)，可獲得未知樣品的指紋照片，并*保存及再計(jì)算，獲得定性和半定量結(jié)果。
CID全譜（譜線多）的應(yīng)用：1、譜線選擇余地寬，有效避開干擾；2、選擇弱線，不經(jīng)稀釋直接進(jìn)行高含量測(cè)定；3、實(shí)時(shí)背景校正；4、很易于短時(shí)間或間斷的進(jìn)樣系統(tǒng)連接；
CCD檢測(cè)器：1、只能同時(shí)暴光，溢出現(xiàn)象嚴(yán)重，無(wú)法同時(shí)獲得高含量和低含量的結(jié)果;2、破壞性讀數(shù)，檢測(cè)后數(shù)據(jù)及消失，無(wú)法進(jìn)行后分析和處理，更不可能獲得指紋照片*保存;3、只能獲得一維照片，譜線選擇太少，不能避開實(shí)際樣品中的干擾;4、只能用于樣品基體簡(jiǎn)單且元素含量在同樣數(shù)量級(jí)的檢測(cè)。
SCD檢測(cè)器：CCD檢測(cè)器分成235段，僅能獲得6%的全譜信息，僅解決了段間的溢出，段內(nèi)溢出仍沒解決，其他性能無(wú)任何改進(jìn)。
PE2100，瓦里安715：簡(jiǎn)單CCD檢測(cè)器
PE5300：SCD檢測(cè)器
瓦里安735：改進(jìn)的CCD檢測(cè)器，段間加了儲(chǔ)流器和防溢出槽

4、少有的智能攝譜功能，一具有Research Mode研究模式的儀器，分析樣品的同時(shí)，拍攝全譜照片，智能獲得樣品中所有譜線的“指紋照片”,并與分析數(shù)據(jù)同時(shí)保存和調(diào)出根據(jù)“指紋照片”：

①計(jì)算機(jī)自動(dòng)檢索樣品中可能存在的元素——定性分析
②與標(biāo)準(zhǔn)譜圖相比較，自動(dòng)給出半定量結(jié)果。
③可在將來(lái)獲得預(yù)先未準(zhǔn)備測(cè)定的元素的結(jié)果。
④照片相減，快速比較兩個(gè)樣品的差異（確定樣品問(wèn)題），或扣除空白,扣除基體
⑤作為一種統(tǒng)一的文件進(jìn)行保存, 以備今后進(jìn)行進(jìn)一步分析研究
二維或三維譜圖顯示，更易了解譜線周圍的干擾情況。
定量、半定量分析
★可方便地選擇元素的任意一條譜線或幾條譜線同時(shí)進(jìn)行定量分析
★由于檢測(cè)器是連續(xù)波長(zhǎng)覆蓋，背景選擇點(diǎn)不受限制
★在獲得分析數(shù)據(jù)的同時(shí)，給出個(gè)分析譜線的譜圖
★可方便進(jìn)行數(shù)據(jù)再處理，包括標(biāo)準(zhǔn)曲線
★采用一元素多達(dá)5條譜線的半定量分析軟件,數(shù)據(jù)可靠
背景校正，干擾因子校正，結(jié)合譜線選擇的靈活性，能滿足各種樣品的分析要求
其他公司無(wú)此性能，獲得樣品檢測(cè)結(jié)果的同時(shí)樣品信息*丟失，不能進(jìn)行定性半定量

5、垂直火炬靈敏度高（僅比水平火炬低1-2倍），非常小的基體效應(yīng)，寬的線性范圍。特別適合農(nóng)業(yè)、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石化、商檢等基體復(fù)雜的領(lǐng)域。
熱電ICP6300同時(shí)具有垂直、水平和雙向觀測(cè)方式可供選擇，垂直觀測(cè)背景干擾少，水平觀測(cè)靈敏度高（TraceTech技術(shù)）
其他公司一般不提供垂直觀測(cè)數(shù)據(jù)，因?yàn)槠浯怪庇^測(cè)方式要比水平觀測(cè)差1-2個(gè)數(shù)量級(jí)；
提供的水平觀測(cè)數(shù)據(jù)靈敏度數(shù)據(jù)，僅為標(biāo)準(zhǔn)溶液及樣品無(wú)任何干擾的結(jié)果，在檢測(cè)實(shí)際樣品（尤其是基體復(fù)雜樣品）時(shí)，水平觀測(cè)的信燥比非常差。
另外水平觀測(cè)方式在應(yīng)用于復(fù)雜樣品時(shí)，還存在炬管消耗嚴(yán)重的問(wèn)題
PE2100：僅有雙向（基于水平）方式，其水平觀測(cè)采用空氣切割，需配空氣壓縮機(jī)，且炬管集碳和消耗嚴(yán)重，火炬受空氣影響不穩(wěn)定，且空氣嚴(yán)重干擾紫外區(qū)元素的測(cè)定。
PE5300：可以選擇雙向和垂直，垂直靈敏度差，雙向技術(shù)同2100
瓦里安：水平和垂直，其垂直靈敏度差，常向客戶*水平，致使其用戶無(wú)法使用（如河南省質(zhì)檢所采購(gòu)3年至今無(wú)法使用）

6、全新光路系統(tǒng)簡(jiǎn)單且全部固定、沒有任何可移動(dòng)部件，光室僅為其他儀器的四分之一，四線矯正快速恒溫，不僅可以獲得好的儀器穩(wěn)定性和重復(fù)性，更可節(jié)約1/3—1/2的氬氣。
開機(jī)15分鐘即可開始測(cè)樣，快速和高性能同時(shí)兼得。
PE2100：光室單線矯正不恒溫，快速開機(jī)檢測(cè)是在犧牲了儀器穩(wěn)定性和重復(fù)性基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)的
PE5300：開機(jī)1小時(shí)才可作樣

7、優(yōu)秀的光學(xué)分辨率：200nm處小于0.007nm
PE2100：0.009nm在200nm處
PE5300：0.006nm在200nm 是利用31um的小狹縫并4次移動(dòng)狹縫后所演示的“分辨率”，并非真實(shí)做樣時(shí)分辨率
63um、128 um的分辨率? 實(shí)際應(yīng)用中其分辨率為0.008
瓦里安：0.009nm在200nm處
瓦里安Vista僅用70個(gè)光譜級(jí)次，每個(gè)級(jí)次所包含的波段很寬，而中階梯分光光譜的分辨率在*位置較好，離開*位置越遠(yuǎn)的譜線分辨越差，因此Vista的分辨率非常不*。提供的分辨率是那些處在中階梯分光光譜優(yōu)秀位置的譜線，而同一級(jí)次在檢測(cè)器邊緣譜系的分辯率較差。
8、高頻發(fā)生器具有好的功率穩(wěn)定性和頻率穩(wěn)定性。的雙閉環(huán)直接耦合晶體控制型發(fā)生器，功率穩(wěn)定性和頻率穩(wěn)定性比其他發(fā)生器高1-2個(gè)數(shù)量級(jí)。

定性或定量地對(duì)土壤、植物、水及其他樣品中常量（如P、K、Ca、Mg、Fe、Al等）及微量元素（如Cu、Zn、B、Mo等）進(jìn)行分析。可對(duì)生態(tài)過(guò)程、生物地球化學(xué)循環(huán)中涉及營(yíng)養(yǎng)、金屬元素在生態(tài)系統(tǒng)中的固定、積累、釋放和遷移過(guò)程進(jìn)行分析和研究。可在同一待測(cè)液中同時(shí)測(cè)定數(shù)種常量及微量元素，具動(dòng)態(tài)范圍寬、靈敏度和精密度高等特點(diǎn)。

Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometer (IRIS ADVANTAGE; iCAP6300: U.S.A.)

It is used for qualitative and quantitative analysis of macro-elements (Such as phosphorus, potassium, calcium, magnesium, iron, aluminum and so on) and trace elements (Such as copper, zinc, boron, molybdenum and so on) in soil, plant and water. It allows the analysis of a large number of different macro-elements and trace elements in one liquid sample at the same time. Typically, ICP-AES provides high sensibility and high precision, and it can analyze samples in the concentration range from low ppb to % levels.

原理及使用說(shuō)明書

一、ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀-ICAP6300光譜儀工作原理和結(jié)構(gòu)

（一）、ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀-ICAP6300光譜儀工作原理：
 

ICP（即電感耦合等離子體）是由高頻電流經(jīng)感應(yīng)線圈產(chǎn)生高頻電磁場(chǎng)，使工作氣體（Ar）電離形成火焰狀放電高溫等離子體，等離子體的高溫度10000K。試樣溶液通過(guò)進(jìn)樣毛細(xì)管經(jīng)蠕動(dòng)泵作用進(jìn)入霧化器霧化形成氣溶膠，由載氣引入高溫等離子體，進(jìn)行蒸發(fā)、原子化、激發(fā)、電離，并產(chǎn)生輻射，光源經(jīng)過(guò)采光管進(jìn)入狹縫、反光鏡、棱鏡、中階梯光柵、準(zhǔn)直鏡形成二維光譜，譜線以光斑形式落在540×540個(gè)像素的CID檢測(cè)器上，每個(gè)光斑覆蓋幾個(gè)像素，光譜儀通過(guò)測(cè)量落在像素上的光量子數(shù)來(lái)測(cè)量元素濃度。光量子數(shù)信號(hào)通過(guò)電路轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)通過(guò)電腦顯示和打印機(jī)打印出結(jié)果。

（二）、ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀-ICAP6300光譜儀的結(jié)構(gòu)

ICP-AES由高頻發(fā)生器、蠕動(dòng)泵進(jìn)樣系統(tǒng)、光源、分光系統(tǒng)、檢測(cè)器（CID）、冷卻系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理等組成。

ICP光譜儀結(jié)構(gòu)示意圖：

操作規(guī)程

（一）．開機(jī)預(yù)熱

（若儀器一直處于開機(jī)狀態(tài)，應(yīng)保持計(jì)算機(jī)同時(shí)處于開機(jī)狀態(tài)）

1． 確認(rèn)有足夠的氬氣用于連續(xù)工作（儲(chǔ)量≥1瓶）。

2． 確認(rèn)廢液收集桶有足夠的空間用于收集廢液。

3． 打開穩(wěn)壓電源開關(guān)，檢查電源是否穩(wěn)定，觀察約1分鐘。

4． 打開氬氣并調(diào)節(jié)分壓在0.60—0.65Mpa之間。保證儀器驅(qū)氣1小時(shí)以上。

5． 打開計(jì)算機(jī)。

6． 若儀器處于停機(jī)狀態(tài)，打開主機(jī)電源。儀器開始預(yù)熱。

7． 待儀器自檢完成后，啟動(dòng)iTEVA軟件，雙擊“iTEVA” 圖標(biāo)，進(jìn)入操作軟件主界面,儀器開始初始化。檢查聯(lián)機(jī)通訊情況。

（二）．編輯分析方法

新建方法

點(diǎn)擊桌面快捷圖標(biāo)TEVA → 輸入用戶名：Admin，Ok，點(diǎn)擊應(yīng)用欄中“分析”出現(xiàn)方法列表（后使用的方法顯示在前面），不選擇其中的方法點(diǎn)擊取消。

進(jìn)入分析界面后，點(diǎn)擊任務(wù)欄中“方法”下拉菜單，選擇“新建”，或者點(diǎn)擊圖標(biāo)欄第二組*個(gè)“新建方法”圖標(biāo)，進(jìn)行新方法編輯。

1 選擇元素及譜線

點(diǎn)擊元素變成綠色，并出現(xiàn)譜線列表（列表顯示譜線（級(jí)次）、相對(duì)強(qiáng)度、狀態(tài)），點(diǎn)擊譜線可以看到干擾元素及譜線，雙擊該譜線即可選定，此時(shí)，該譜線前會(huì)出現(xiàn)藍(lán)色“√”，點(diǎn)擊“確定”完成譜線選擇。建議初建方法時(shí)多選擇幾條譜線進(jìn)行比較。

2 設(shè)置參數(shù)

點(diǎn)擊左下角“方法”，在第二項(xiàng)“分析參數(shù)”中設(shè)置測(cè)定重復(fù)次數(shù)、樣品沖洗時(shí)間、等離子觀測(cè)、積分時(shí)間等參數(shù)。

1）重復(fù)次數(shù)、樣品沖洗時(shí)間和積分時(shí)間均可改變

2）等離子觀測(cè)一般選擇水平觀測(cè)

水平觀測(cè)——短波、長(zhǎng)波都是水平觀測(cè)

垂直觀測(cè)——短波、長(zhǎng)波都是垂直觀測(cè)

自動(dòng)——短波水平觀測(cè)，長(zhǎng)波垂直觀測(cè)

譜線選擇——對(duì)同一元素中不同譜線設(shè)置不同觀測(cè)方式

3 設(shè)置工作曲線

點(diǎn)擊第九項(xiàng)“標(biāo)準(zhǔn)”，選中“高標(biāo)”刪除，依次“添加”標(biāo)準(zhǔn)，更改標(biāo)準(zhǔn)名稱，輸入標(biāo)準(zhǔn)濃度，完成工作曲線設(shè)置。（注；各種元素都是同一濃度）

方法參數(shù)設(shè)置完成后點(diǎn)擊任務(wù)欄中“方法”下拉菜單選擇“保存”以保存方法。

點(diǎn)火操作

1. 再次確認(rèn)氬氣儲(chǔ)量和壓力，并確保驅(qū)氣時(shí)間大于1小時(shí)，以防止CID檢測(cè)器結(jié)霜，造成CID檢測(cè)器損壞。

2. 光室溫度穩(wěn)定在38±0.2℃。CID溫度小于-40℃。

3. 檢查并確認(rèn)進(jìn)樣系統(tǒng)（炬管、霧化室、霧化器、泵管等）是否正確安裝。

4. 夾好蠕動(dòng)泵夾，把樣品管放入蒸餾水中。

5. 開啟通風(fēng)。

6. 開啟循環(huán)冷卻水。

7. 待等離子體穩(wěn)定15分鐘后，即可開始測(cè)定樣品。

8. 單擊右下腳點(diǎn)火圖標(biāo) ，打開等離子狀態(tài)對(duì)話框，查看連鎖保護(hù)是否正常，若有紅燈警示，需做相應(yīng)檢查，若一切正常點(diǎn)擊等離子體開啟，進(jìn)行點(diǎn)火操作。

建立標(biāo)準(zhǔn)曲線并分析樣品

1. 自動(dòng)尋峰：

1）打開或新建分析方法，點(diǎn)擊“儀器”下拉菜單選擇“執(zhí)行自動(dòng)尋峰”，選擇譜線時(shí)，如果譜線前有綠色“↙”表示該譜線已經(jīng)進(jìn)行過(guò)尋峰，如果沒有則需要進(jìn)行尋峰操作。

2）執(zhí)行自動(dòng)尋峰時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)溶液濃度不能太低，亦不能太高，好控制在1ppm—10ppm左右，否則有可能出現(xiàn)尋峰失敗。遇到此種情況，可采用單標(biāo)，對(duì)尋峰失敗的譜線重新進(jìn)行尋峰。尋峰結(jié)束后，需要重新保存方法，才可以繼續(xù)標(biāo)準(zhǔn)化。若譜線沒有漂移或漂移很小，可忽略此步驟。若譜線漂移很遠(yuǎn)，需要重新做波長(zhǎng)校準(zhǔn)。

2. 標(biāo)準(zhǔn)曲線法：（適用純標(biāo)曲線和高純基體匹配曲線）

1）點(diǎn)擊“運(yùn)行”下拉菜單，選擇“運(yùn)行校正標(biāo)準(zhǔn)”進(jìn)行工作曲線測(cè)定，或者點(diǎn)擊圖標(biāo)欄第三組第四個(gè)圖標(biāo)“運(yùn)行校正標(biāo)準(zhǔn)”。

2）點(diǎn)擊左下角“方法”，在第十項(xiàng)“元素”中選擇“擬合”查看元素曲線線性。如果某一點(diǎn)結(jié)果不好，可以將后一列“權(quán)重”中的“1”改為“0”，將該點(diǎn)去除。

3）點(diǎn)擊“運(yùn)行”下拉菜單，選擇“未知樣”進(jìn)行樣品測(cè)定，或者點(diǎn)擊圖標(biāo)欄點(diǎn)擊第三組*個(gè)圖標(biāo)“運(yùn)行未知樣”。每進(jìn)一個(gè)樣點(diǎn)擊一次，樣品序號(hào)自動(dòng)排列。

3. 標(biāo)準(zhǔn)加入法：（適用于需要用標(biāo)準(zhǔn)加入法扣除基體空白的一般基體匹配曲線）

1）點(diǎn)擊“運(yùn)行”下拉菜單，選擇“運(yùn)行校正標(biāo)準(zhǔn)”進(jìn)行工作曲線測(cè)定，或者點(diǎn)擊圖標(biāo)欄第三組第四個(gè)圖標(biāo)“運(yùn)行校正標(biāo)準(zhǔn)”。點(diǎn)擊左下角“方法”，在第十項(xiàng)“元素”中選擇“擬合”查看元素曲線線性。檢查標(biāo)準(zhǔn)及試樣背景扣除情況，有必要時(shí)調(diào)整背景扣除位置，以得到較好的分析結(jié)果。

2）測(cè)定工作曲線后點(diǎn)擊“運(yùn)行未知樣”，選擇“MSA”進(jìn)行“MSA設(shè)置”，將濃度改為工作曲線濃度，確定后運(yùn)行，測(cè)定完畢“計(jì)算MSA值”。

3）點(diǎn)擊左下角“方法”，在第十項(xiàng)“元素”中選擇“標(biāo)準(zhǔn)”項(xiàng)，將曲線濃度改為“原濃度+MSA值”，更改后保存方法版本。再“運(yùn)行未知樣”即可。

4）簡(jiǎn)易操作：先不做工作曲線，直接用曲線做標(biāo)準(zhǔn)加入法，操作同上。在“分析”欄右擊結(jié)果，選擇“改變樣品類型”，將“未知樣”改為“校正曲線”， 此時(shí)可以查看曲線線性，保存后進(jìn)行樣品測(cè)定。

（五）. 定性分析

點(diǎn)擊桌面TEVA軟件快捷鍵→輸入用戶名：admin，OK→ 點(diǎn)擊 分析 →方法(新建…) →　元素周期表上選擇好待查元素→點(diǎn)擊上端工具欄 運(yùn)行全譜圖(UV、VIS各一次) →觀察對(duì)應(yīng)方框有無(wú)光斑來(lái)判定其有無(wú)，同樣條件下凈強(qiáng)度大小來(lái)大致估計(jì)其含量（半定量）。

（六）．熄火

1. 分析完畢后，將進(jìn)樣管放入蒸餾水中沖洗進(jìn)樣系統(tǒng)10分鐘。

2. 打開iTEVA軟件中的 等離子狀態(tài)對(duì)話框，點(diǎn)擊等離子關(guān)閉熄火。

3. 點(diǎn)擊等離子體關(guān)閉等幾分鐘，關(guān)閉循環(huán)水，松開泵夾及泵管，將進(jìn)樣管從蒸餾水中取出。

4. 關(guān)閉排風(fēng)。

5. 待CID溫度升至20℃以上時(shí)，驅(qū)氣20分鐘后，關(guān)閉氬氣。

（七）．停機(jī)

若儀器*停用，關(guān)閉主機(jī)電源和氣源使儀器處于停機(jī)狀態(tài)。建議用戶定期開機(jī)，以免儀器因*放置而損壞。

日常儀器維護(hù)及注意事項(xiàng)

1.開關(guān)氣氬氣原則
在啟動(dòng)光譜儀前1小時(shí)打開氬氣瓶，分別調(diào)節(jié)兩瓶氣體使分壓表壓力到0.60-0.65Mpa，吹掃光室和 CID檢測(cè)器；在熄火后，不要馬上關(guān)掉氬氣，必須繼續(xù)開氣吹掃CID 20分鐘后才關(guān)掉氬氣瓶。
2.定期清洗炬管
一般在炬管變臟后（表面變黑）時(shí)須拆卸下來(lái)，用 8-10% 的稀硝酸浸泡2-3小時(shí)，然后用去離子水沖洗干凈，涼干裝上。
3.定期更換冷卻循環(huán)水：
經(jīng)常開機(jī)情況下，一般半年至一年需要對(duì)冷卻循環(huán)水進(jìn)行更換。
4.樣品測(cè)定完成后，先用3-5%的稀硝酸沖洗2-3分鐘，然后再用去離子水沖洗2-3分種后熄滅等離子體，松開泵夾。
5. 點(diǎn)火分析前確保驅(qū)氣時(shí)間大于1小時(shí)，以防止CID檢測(cè)器結(jié)霜，造成CID檢測(cè)器損壞。
6. 定量測(cè)定時(shí)須在光室溫度達(dá)到并穩(wěn)定在38±0.2℃。CID溫度小于-40℃時(shí)，點(diǎn)火15分鐘后測(cè)定。
7.檢查霧化器，看是否有堵塞現(xiàn)象，及時(shí)清潔霧化器、中心管。
8. 定期更換泵管。
9. 計(jì)算機(jī)。
10. 未點(diǎn)火期間保持泵夾松弛。
11.樣品必須清亮透明，否則容易堵塞霧化器；萬(wàn)一霧化器堵塞，絕不能用金屬絲清理異物。
12. 遇停氣熄火，應(yīng)立即更換上供氣，讓CID在常溫（20攝氏度左右）狀態(tài)下吹掃2-4小時(shí)后，方可重新點(diǎn)火分析測(cè)定。切不能，更換上新氣源后立即馬上點(diǎn)火分析。

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