X熒光光譜儀,黃銅檢測儀器,Rohs檢測儀器、3D打印機、菲希爾鍍層測厚儀、伊諾斯手持式光譜儀、ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、液相色譜、三坐標、火花直讀光譜儀
EDX8800EX熒光光譜儀產(chǎn)品特點
1. 采用的美國*SDD(SILICON DRIFT DETECTOR)硅漂移探測器,分辨率更高, 大大提高了輕元素的檢出限,標準檢出限較SI-PIN探測器提高100倍;測量范圍更寬,基本涵蓋了各種常規(guī)材料元素分析要求;
EDX8800EX熒光光譜儀 配置美國*數(shù)據(jù)集成處理系統(tǒng),數(shù)據(jù)采集速度更快,測量更穩(wěn)定,重復性和*穩(wěn)定性更好;
3. 配置開發(fā)的測量軟件,集成多種圖形計算方法,測量數(shù)據(jù)更精準,更穩(wěn)定;
4. 軟件全面監(jiān)控儀器主要核心部件運行狀態(tài),使用更安全;
配置專門開發(fā)的真空系統(tǒng),真空性能更好,測試效果更佳;
技術參數(shù):
1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
2.. 元素含量分析范圍為1ppm到99.99%
3. zui低檢出限:1ppm
4. 測量時間:60-200秒(可調(diào))
5. 儀器工作電源:AC220±5V
6. 能量分辨率為129±5eV
7. X 射線光管zui大輸出電流:1mA
極限壓力:6.7×10-2Pa
9.樣品腔尺寸:610*320*100(mm)(不抽真空)/Φ100*h75(mm) (真空樣品腔)
10.多次測量重復性(以標準樣品為準):±0.05%(高含量)/±0.002%(微量)
11.*工作穩(wěn)定性(以標準樣品為準)±:0.06% (高含量)/±0.0025%(微量)