Nano XploRA AFM-拉曼聯(lián)用 Nano XploRA

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 天津東方科捷科技有限公司
品牌 HORIBA/堀場(chǎng)
型號(hào) Nano XploRA
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 代理商
更新時(shí)間 2018/3/30 11:51:09
訪問次數(shù) 789

產(chǎn)品標(biāo)簽

AFM-拉曼聯(lián)用 Nano XploRA HORIBA JY

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

天津東方科捷科技有限公司 Orient KOJI instrument Co., Ltd.，基于高素質(zhì)的專家研發(fā)及實(shí)踐團(tuán)隊(duì)，為專業(yè)化的需求，研制特殊滿足用戶科研及測(cè)試要求的光譜儀部件和外設(shè)，使您的科研更便捷，更加準(zhǔn)確；

代表產(chǎn)品：
QY-2000積分球熒光光譜儀(發(fā)光粉QY光譜綜合測(cè)量系統(tǒng)，滿足較早修訂的LED粉測(cè)試國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，包括外量子效率，量子效率，吸收效率，色坐標(biāo)，色純度，熱穩(wěn)定性及熱猝滅性能)，可以提供變溫量子產(chǎn)率及色坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
顯微熒光壽命（TCSPC）測(cè)量系統(tǒng)，
熒光光譜儀用微量粉末夾具，
積分球漫反射測(cè)量配置粉末盒；
HJY熒光內(nèi)置PLQY量子產(chǎn)率附件，
熒光光譜儀用光纖遠(yuǎn)程測(cè)量及微區(qū)測(cè)量附件；
300℃高溫?zé)晒?熱猝滅及熱穩(wěn)定性)測(cè)量附件。

同時(shí)代理：
IBH的高頻閃兆赫茲閃爍半導(dǎo)體激光器和LED光源--NanoLED，
皮秒100MHz激光器Deltadiode，滿足TCSPC熒光壽命及其他測(cè)試的廣泛需求。
IBH的TCSPC 時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)測(cè)試工作站；
IBH的TBX-04 等系列超快檢測(cè)器集成模塊；
提供皮秒熒光壽命，時(shí)間分辨熒光系統(tǒng)升級(jí)和技術(shù)服務(wù)。
HORIBA 公司的x射線熒光光譜儀
HORIBA 公司的陰極射線發(fā)光系統(tǒng)--CL系統(tǒng)。
HORIBA 公司的粒度分布分析儀和Zeta電位計(jì)

TIRF Technologies, Inc公司的全內(nèi)反射熒光測(cè)量方案，可用于各品牌熒光光譜儀，顯微鏡和提供全套全內(nèi)反射熒光儀器。

展開

熒光光譜儀

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

詳細(xì)信息：
  將AFM的納米量級(jí)高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來，實(shí)現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學(xué)結(jié)構(gòu)測(cè)試。
產(chǎn)品特點(diǎn)：● AFM和拉曼同區(qū)域成像
● 針尖增強(qiáng)拉曼（TERS)
● AFM光杠桿反饋激光自動(dòng)準(zhǔn)直
● 可同時(shí)提供上方、側(cè)向耦合光路，均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率
● 高頻掃描頭，對(duì)環(huán)境噪聲不敏感AFM-拉曼耦聯(lián)配置    HORIBA Scientific拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡（SPM）進(jìn)行耦合，構(gòu)建一個(gè)功能強(qiáng)大且靈活的AFM-拉曼平臺(tái)。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器。
    所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過對(duì)掃描探針上的激光反射進(jìn)行快速成像或者根據(jù)針尖增強(qiáng)拉曼散射信號(hào)對(duì)熱點(diǎn)進(jìn)行成像，因而該配置能夠準(zhǔn)確、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。    高通量的光信號(hào)收集和檢測(cè)硬件保證在快速掃描的同時(shí)采集每一點(diǎn)的SPM信號(hào)和拉曼光譜。

AFM-拉曼和針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）

將您的所有需求集成到一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)中

我們所提供的*解決方案使用直接光路耦合，對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化以實(shí)現(xiàn)高通量。該平臺(tái)可以把原子力顯微鏡（AFM）、近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)（SNOM,NSOM）、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學(xué)光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺(tái)多功能的儀器中，以實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）或共點(diǎn)測(cè)量。
結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

單層、雙層和三層石墨烯的共點(diǎn)AFM和拉曼成像

● AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級(jí)別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場(chǎng)和近場(chǎng)光學(xué)特性。
● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息。
● 同步測(cè)量的*平臺(tái)，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
● 結(jié)合高性能和易用性，HORIBA將會(huì)根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個(gè)可靠、全功能的解決方案
● 針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)的，同時(shí)有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗(yàn)做，您可以自信地使用這一技術(shù)。一個(gè)工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率

● 快速找到納米對(duì)象由于納米材料具有特殊的化學(xué)屬性，拉曼峰信號(hào)較強(qiáng)，因此在光學(xué)顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進(jìn)行搜索和定位。在找到樣品后，我們可以對(duì)感興趣的位置進(jìn)行形貌、機(jī)械、電學(xué)和熱能分析。

● 交叉驗(yàn)證您的數(shù)據(jù) 拉曼光譜可以證實(shí)材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對(duì)比度較差而難以確定層厚，拉曼則可以從另外一個(gè)角度去獲得相同的信息，此外拉曼還提供更多有關(guān)結(jié)構(gòu)和缺陷的信息，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。

● 獲得感興趣納米結(jié)構(gòu)的化學(xué)信息在表征納米結(jié)構(gòu)時(shí)，有時(shí)僅獲得物理性質(zhì)是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細(xì)的化學(xué)成分信息，這是其他SPM傳感器無法實(shí)現(xiàn)的。