NAP8200 X射線熒光光譜儀,貴金屬檢測儀

詳細功能： 
尺寸和重量：500 * 500 * 400mm/MAX：45公斤 
測試時間：30～200S 
分析元素：金，銀，鉑，鈀，銠，釕，銅，鋅，鎳，鎘等貴金屬純度分析檢測 
分析范圍：1％～99.99％ 
測試點尺寸：1～2毫米 
樣品室尺寸：0～90毫米 
測試精度：+ / -0.1％的精度可以保持0.1％經(jīng)過多次試驗后， 
高壓模板：4～50Kv 
X射線源：莫材料X射線光管（風冷，*） 
功率：120W 
探測器：正比計數(shù)器處理器隱逸微 
包覆層測量：包覆層厚度范圍<30μm.Eight循環(huán)系統(tǒng)的風扇，溫度控制系統(tǒng)可以保護自己 

產(chǎn)品的*性 ：

1.X射線熒光版本3.0菜單模式與參數(shù)設定，數(shù)據(jù)檢查和計算英文和中文版都采用可 
2.測試時間是固定的程序以提高能力和效率，如果沒有援助， 
3.自我保護技術(shù)能夠提高X射線管的消費生活。熱身和抗干擾過程控制程序，減少被反射的X射線和頻譜，干擾增加的準確性和穩(wěn)定性。 
4.可選顏色不同的元素，將有助于分辨清楚，方便感興趣的元素。當測試結(jié)束后，檢測報告將會顯示及時。

應用領域：

黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。

包裝方式：

扎實的木箱和海綿泡沫保護，更好的讓產(chǎn)品在運輸途中安然無損