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SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡

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質(zhì)譜,色譜,光譜

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議
儀器種類 其它 應(yīng)用領(lǐng)域 食品,化工

SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡

HR-SPM
觀察生動的納米世界

HR-SPM是采用頻率檢測方式(Frequency Modulation)的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環(huán)境中實現(xiàn)超高分辨率的觀察,還實現(xiàn)了固液界面的水化作用層(hydration)·溶劑化作用層(solvation)的觀察。
HR-SPM:High Resolution Scanning Probe Microscope

SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡HR-SPM的特點

采用FM(頻率調(diào)制)方式
大氣·液體環(huán)境中的噪聲減少到以往的1/20
在大氣·液體環(huán)境中實現(xiàn)真空型SPM的性能水平!

以往的SPM(掃描型探針顯微鏡)/AFM(原子力顯微鏡)是AM(振幅調(diào)制)方式,而FM(頻率調(diào)制)方式從原理上就因為高靈敏度檢測從而可實現(xiàn)更高的分辨率。

SPM:Scanning Probe Microseope
AFM:Atomic Force Microscope
AM:Amplitude Modulation
FM:Frequency Modulation

和以往SPM/AFM相比的不同

液體中原子分辨率觀察

圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往AFM(AM方式:左)湮沒在噪聲中的原子通過FM方式(右)則可以清晰地觀察到。
FM方式可以得到真正的原子分辨率(True Atomic Resolution)。

大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察

TiO2基板上的Pt催化粒子被識別了出來,并通過KPFM進(jìn)行表面電勢的測定??梢杂^察到數(shù)nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中,紅色區(qū)域是正電勢,藍(lán)色區(qū)域是負(fù)電勢??梢妼τ贙PFM觀察,分辨率也得到了大幅的提高。

*KPFM(Keivin Probe Force Microscope)功能為特殊定制。

<引用文獻(xiàn)>

1)Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).






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