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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>光譜>可見分光光度計> UV1901紫外可見分光光度計

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UV1901紫外可見分光光度計

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海奧析科學(xué)儀器有限公司
  • 品牌 上海奧析
  • 型號
  • 產(chǎn)地 閔行區(qū)聯(lián)曹路552號
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2024/8/30 13:56:05
  • 訪問次數(shù) 13337

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上海奧析科學(xué)儀器有限公司是集開發(fā)、研制、生產(chǎn)分光光度計,紫外分光光度計,火焰分光光度計,熒光分光光度計等各種分析器及實驗室相關(guān)設(shè)備為一體,以實驗產(chǎn)品為核心的專業(yè)性技術(shù)企業(yè)。在經(jīng)營自主品牌產(chǎn)品之外,本公司還和國內(nèi)外多家著名企業(yè)合作。

 上海奧析科學(xué)儀器有限公司主要產(chǎn)品有分光光度計、火焰分光光度計,熒光分光光度計,原子吸收、天平、超聲波等各類型儀器。廣泛應(yīng)用于大專院校、科研機(jī)構(gòu)、制藥、石油、化工、食品、醫(yī)院、輕工、污水處理、環(huán)境檢測、水質(zhì)分析、農(nóng)林業(yè)、牧漁等行業(yè)。

  本公司始終追求*品質(zhì)和盡善盡美的服務(wù),不斷加強(qiáng)與國內(nèi)外著名專家的交流與合作,公司中擁有一批具有高級技術(shù)職稱的專家做指導(dǎo),擁有從事各類實驗方案的專家和專業(yè)人才。公司擁有一批致力分析儀器開發(fā)、研制、生產(chǎn)十多年的團(tuán)隊。他們會為客戶提供專業(yè)實驗方案及技術(shù)咨詢、設(shè)計、改裝和升級。提供較好的解決方案等技術(shù)服務(wù),保障專業(yè)完善的售前、售中、售后服務(wù)。

分光光度計,原子吸收,液相色譜儀,氣相色譜儀,純水機(jī),天平,超聲波

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 2萬-5萬

UV1901紫外可見分光光度計

顯示方式:6英寸 320×240 點陣帶背光數(shù)字 LCD

光源燈:預(yù)調(diào)日本濱松無臭氧環(huán)保型氘燈 歐司朗長壽命鹵鎢燈

光學(xué)系統(tǒng):精密雙光束光學(xué)系統(tǒng)

接口:RS232C串行通訊口用于接配軟件,并行打印口用于接配打印機(jī)

光譜掃描功能:主機(jī)及軟件支持  廠家銷售 吳

電源電壓:100V~240V   50/60±1Hz

儀器尺寸:650×450×220(mm)

凈重:25Kg

UV1901紫外可見分光光度計

型號

UV1901型

UV1902型

測光方式

透過率,吸光度,能量,反射率

光譜帶寬

1nm

2nm

波長范圍

190nm~1100nm

波長準(zhǔn)確度

≤±0.3nm

波長重復(fù)性

≤0.1nm

★光度范圍

0-999.9%(t),-4A~4A,0-9999C,1-9999F

光度準(zhǔn)確度

   ≤±0.3%(t) (0~100%t)

≤±0.002A(0~0.5A)

≤±0.004A(0.5~1A)

光度重復(fù)性

  ≤0.15%(t) (0-100%t)

≤0.001A(0~0.5A)

≤0.002A(0.5~1A)

雜光

≤0.03%(t) (220nm NaI,360nm NaNO2))

★穩(wěn)定性

     ≤±0.0004A/h(500nm,開機(jī)預(yù)熱30min)

噪聲

≤±0.0003A

★基線平直度

≤±0.001A(190~1100nm)

≤±0.0008A(190~1100nm)

★導(dǎo)數(shù)分辨率

>0.5

掃描速度

快      中     慢

       

分析軟件

舒適的操作感受和豐富的分析功能--UVCON系列定性定量數(shù)據(jù)處理分析軟件

 

UVCON系列定性定量數(shù)據(jù)處理分析軟件是為上海奧析科學(xué)儀器有限公司的170018001900三個系列儀器的分析軟件。通過通訊電纜將儀器主機(jī)的RS232C通訊口與電腦上的串行通訊口或USB聯(lián)接,利用軟件對主機(jī)的運(yùn)行進(jìn)行控制,并對主機(jī)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析、處理或輸出,幫助完成從常規(guī)質(zhì)控到環(huán)保、生物化學(xué)、醫(yī)學(xué)衛(wèi)生、材料等諸多領(lǐng)域的分析研究。

 

光譜測量

  峰谷檢測                             掃描參數(shù)設(shè)定                   掃描圖譜

動力學(xué)測量

動力學(xué)測量可測定從1-10小時的透射比或吸光度的時間變化,記錄間隔從0.1-60秒,可以觀察快速的反應(yīng)和變化。在數(shù)據(jù)處理功能中有峰谷檢測和導(dǎo)數(shù)運(yùn)算。

 

 

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