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AE-100M 白光干涉儀AE-100M

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維修:測(cè)量投影儀(輪廓投影儀),二次元(影像測(cè)量?jī)x),工具顯微鏡,三坐標(biāo),*預(yù)調(diào)儀,光柵尺,電子尺,磁柵尺,球柵尺,機(jī)床數(shù)顯,高度規(guī),硬度計(jì),卡千,千分尺,千分表,測(cè)長(zhǎng)儀維修,高度儀等專(zhuān)業(yè)測(cè)量?jī)x器。廣泛地應(yīng)用于電子元件、精密模具、精密五金、彈簧、塑膠、汽車(chē)零件、PCB加工等領(lǐng)域。公司擁有專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員負(fù)責(zé)相關(guān)保修及維修。十余年來(lái),我們的客戶遍布全國(guó)各地,十余年來(lái),我們的技術(shù)人員的到跡過(guò)全國(guó)各地,十余年來(lái),我們始終如一的服務(wù),為我們贏來(lái)了廣大客戶的*好評(píng),在此感謝老客戶為我們介紹的生意,我們將繼續(xù)為您提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與優(yōu)質(zhì)的服務(wù),歡迎新老客戶來(lái)電咨詢!

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AE-100M白光干涉儀AE-100M的詳細(xì)資料:白光干涉儀AE-100MAE-100產(chǎn)品用途 結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn),可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測(cè)量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測(cè)。應(yīng)用領(lǐng)域包含產(chǎn)品特點(diǎn)● 奈米深度3D檢測(cè)● 高速/無(wú)接觸量● 表面形狀/粗糙度分析● 非透明/透明材質(zhì)皆適用● 非電子束/非雷射的安全量測(cè)● 低維護(hù)成本專(zhuān)業(yè)級(jí)的3D圖形處理與分析軟體(Post Topo)● 提供多功能又具親和接口的3D圖形處理與分析● 提供自動(dòng)表面平整化處理功能● 提供高階標(biāo)準(zhǔn)片的軟件自校功能● 深度/高度分析功能提供線型分析與區(qū)域分析等兩種方式● 線型分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度(Rorghness)與起伏度● (waviness)的測(cè)量分析??商峁┒噙_(dá)17種的ISO量測(cè)參數(shù)與4種額外量測(cè)數(shù)據(jù)(Wafer)● 區(qū)域分析方式提供圖形分析與統(tǒng)計(jì)分析?!? 具有平滑化、銳化與數(shù)字過(guò)濾波等多種二維快速利葉轉(zhuǎn)換(FFT)處理功能?!? 量測(cè)分析結(jié)果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出高速精密的干涉解體軟體(ImaScan)● 系統(tǒng)硬件搭配ImgScan前處理軟件自動(dòng)解析白光干涉條紋● 垂直高度可達(dá)0.1nm● 高度的分析算法則,讓你不在苦候測(cè)量結(jié)果● 垂直掃描范圍的設(shè)定輕松又容易● 有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇● 平臺(tái)XYZ位置數(shù)顯示,使檢標(biāo)的尋找快速又便利● 具有手動(dòng)/自動(dòng)光強(qiáng)度調(diào)整功能以取得*的干涉條紋對(duì)比?!?具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測(cè)量模式供選擇?!?具有的解析算法則可處理半透明物體的3D形貌?!?具有自動(dòng)布補(bǔ)點(diǎn)功能● 可自行設(shè)定掃描方向技術(shù)規(guī)格參數(shù)型號(hào)AE-100M移動(dòng)臺(tái)(mm)平臺(tái)尺寸100*100 ,行程13*13物鏡放大倍率10X20X50X觀察與量測(cè)范圍0.43*0.320.21*0.160.088*0.066光學(xué)分辨率(um)0.90.690.5收光角度(Degrees)172333工作距離7.44.73.4傳感器分辨率640*480像素機(jī)臺(tái)重量(kg)/載重kg20kg/小于1kgZ軸移動(dòng)范圍45mm , 手動(dòng)細(xì)調(diào)Z軸位置數(shù)字顯示器分辨率1um傾斜調(diào)整平臺(tái)雙軸/手動(dòng)調(diào)整 高度測(cè)量測(cè)量范圍100(um)(400um ,選配)量測(cè)分辨率0.1mm重復(fù)精度≤ 0.1% (量測(cè)高度:>10um)≤10um(量測(cè)高度1um 10um)≤ 5nm(量測(cè)高度:<1um )量測(cè)控制自動(dòng)掃描速度(um/s)12(zui高) 光源光源類(lèi)型儀器用鹵素(冷)光源平均使用壽命1000小時(shí)100W 500小時(shí)(150W)光強(qiáng)度調(diào)整自動(dòng)/手動(dòng) 數(shù)據(jù)處理與顯示用計(jì)算器*處理運(yùn)算屏幕雙核心以上CUP影像與數(shù)據(jù)顯示屏幕17 " 雙晶屏幕操作系統(tǒng)Windows XP(2)電源與環(huán)境要求AC100 --240 V 50-60Hz環(huán)境震動(dòng)VC-C等級(jí)以上 量測(cè)與分析軟件量測(cè)軟件ImScan量測(cè)軟件具VSI/ PVS/PSI 量測(cè)模式(PSI量測(cè)模式需另選配PSI模塊搭配)PosTopo 分析軟件分析軟件ISO 粗燥度/階高分析,快速傳利業(yè)轉(zhuǎn)換和濾波,多樣的2D和3D觀測(cè)視角圓,外形/面積/體積分析,圓像縮放、標(biāo)準(zhǔn)影像文件格式轉(zhuǎn)換報(bào)表輸出,程序教導(dǎo)量測(cè)等。


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