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正置金相顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


元中銳科集成檢測技術(shù)有限公司是工業(yè)檢測技術(shù)和系統(tǒng)集成商。是日本奧林巴斯(OLYMPUS)株式會社三維超景深顯微鏡,正立金相顯微鏡,小型系統(tǒng)顯微鏡,數(shù)碼光學(xué)顯微鏡,激光共焦顯微鏡,工業(yè)顯微鏡的代理商。還是德國UHL產(chǎn)品在北方的總代理。致力于為工業(yè)制造和科研領(lǐng)域用戶提供顯微分析、圖像分析、缺陷識別和檢驗(yàn)、無損探查、品質(zhì)管理、計(jì)量,過程控制等專業(yè)檢測設(shè)備,依托強(qiáng)有力的技術(shù)資源及完善專業(yè)的售后服務(wù)與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細(xì)致的服務(wù)及全面地解決方案 。
服務(wù)對象涵蓋科研院校,航空航天、冶金、電力、地質(zhì),石油石化等材料研究行業(yè),機(jī)械及微機(jī)械領(lǐng)域,以及電子領(lǐng)域、光電顯示制造、電子零件制造、半導(dǎo)體、液晶及MEMS,NANO等諸多領(lǐng)域,為用戶提供*的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供Z強(qiáng)有力的技術(shù)支持。
我們的技術(shù):可見光、激光、深紫外、紅外、偏光、掃描、共聚焦等多種顯微術(shù)、精密量測技術(shù)、全自動顯微觀察及測量、數(shù)字圖象處理和識別,自動控制等。
我們的宗旨:秉承 創(chuàng)新Innovation技術(shù) Technology;集成 Integration服務(wù) Service的理念,
堅(jiān)持專業(yè)周到細(xì)致的服務(wù),不斷努力創(chuàng)新,更好地創(chuàng)造顧客價值和公司價值,成為工業(yè)檢測和質(zhì)量及過程控制方面的優(yōu)秀的公司之一。

激光共聚焦顯微鏡

正置金相顯微鏡技術(shù)規(guī)格:

BX61

BX51

BX51M

BX41M-LED

光學(xué)系統(tǒng)

UIS2光學(xué)系統(tǒng)(無限遠(yuǎn)校正)

機(jī)身

照明裝置

反射/透射

反射

反射(對應(yīng)ESD功能)

外置12 V 100 W光源 
光量預(yù)調(diào)開關(guān) 
LED電壓指示 
反射/透射光轉(zhuǎn)換開關(guān)

內(nèi)裝12 V 100 W光源 
光量預(yù)調(diào)開關(guān) 
LED電壓指示 
反射/透射光轉(zhuǎn)換開關(guān)

內(nèi)裝12 V 100 W光源 
光量預(yù)調(diào)開關(guān) 
LED電壓指示

內(nèi)裝3 W白色LED光源 
光量預(yù)調(diào)開關(guān)

對焦單元

電動調(diào)焦 
行程25 mm 
zui小刻度單位為0.01 μm

行程25 mm 
微調(diào)旋鈕1圈的微調(diào)行程為100 μm 
zui小刻度單位為1 μm 
可設(shè)聚焦粗調(diào)上限停止位置,粗調(diào)旋鈕張力可調(diào)

zui大標(biāo)本高度

25 mm(不包含臂長調(diào)節(jié)器)

65 mm(不包含臂長調(diào)節(jié)器)

觀察筒

廣角視場 
(視場數(shù)為22)

倒置∶雙目鏡筒、三目鏡筒、傾斜式雙目鏡筒 
正象∶三目鏡筒、傾斜式雙目鏡筒

超寬視場 
(視場數(shù)為26.5)

倒置∶三目鏡筒 
正象∶三目鏡筒、傾斜式三目鏡筒

反射光
照明裝置

明視場等

BX-RLAA 
電動明/暗視場轉(zhuǎn)換 
電動孔徑光闌

BX-RLA2 
100 W鹵素?zé)簦裳b高亮度光源、光纖照明裝置) 
明視場/暗視場/微分干涉/簡易偏振光 
視場光闌和孔徑光闌(帶中心輸出機(jī)構(gòu))、明/暗視場法連動的ND濾鏡

BX-AKMA-LED/BX-KMA-LED 
3 W白色LED照明 
明視場/微分干涉/簡易偏振光 
對應(yīng)ESD功能 
僅BX-AKMA-LED具有的功能: 
斜射照明裝置 
AS(帶中心輸出機(jī)構(gòu)) 
斜射照明的位置設(shè)置

反射光 
熒光

BX-RFAA 
電動六孔轉(zhuǎn)盤 
內(nèi)置電動光閘 
備有視場光闌和孔徑光闌

BX-URA2 
100 W汞燈、75 W氙氣燈 
六孔分光鏡組件(標(biāo)準(zhǔn)∶WB、WG、WU+BF等) 
備有視場光闌和孔徑光闌(帶中心輸出機(jī)構(gòu))及光閘機(jī)構(gòu)

透射光照明裝置

100 W鹵素?zé)?nbsp;
阿貝聚光鏡/長工作距離聚光鏡 
內(nèi)置透射光濾鏡(LBD、ND25、ND6)

-

物鏡轉(zhuǎn)換器

明視場用

電動六孔

六孔、中心輸出六孔、七孔(電動物鏡轉(zhuǎn)換器選購件)

五孔、六孔(對應(yīng)ESD功能)、七孔

明/暗視場用

電動五孔、電動六孔、中心輸出五孔

五孔、中心輸出五孔、六孔(電動物鏡轉(zhuǎn)換器選購件)

-

載物臺

帶左手(右手)用同軸驅(qū)動旋鈕的載物臺:76 (X) × 52 (Y) mm,張力可調(diào) 
帶左手(右手)用同軸驅(qū)動旋鈕的大型載物臺:100 (X) × 105 (Y) mm,附設(shè)Y軸鎖定機(jī)構(gòu)

ESD性能

-

表面電阻108Ω以下,放電時間少于0.2秒*

外形尺寸

約318(寬) × 602(長)× 541(高) mm

約318(寬) × 602(長) × 480(高)mm

約318(寬) × 602(長) × 480(高)mm

約283(寬) × 455(長) × 480(高)mm

重量

約25.5 kg 
(機(jī)身約重11.4 kg)

約20.8 kg 
(機(jī)身約重10.3 kg)

約19.5 kg 
(機(jī)身約重9.8 kg)

約14 kg 
(機(jī)身約重6.7 kg)

 

BXFM

BXFM-S

光學(xué)系統(tǒng)

UIS2光學(xué)系統(tǒng)(無限遠(yuǎn)校正)

機(jī)身

對焦單元

行程30 mm、微調(diào)旋鈕1圈的微調(diào)行程為200 μm、zui小刻度單位2 μm、粗調(diào)旋鈕張力可調(diào)

觀察筒

廣角視場 
(視場數(shù)為22)

倒置∶雙目鏡筒、三目鏡筒、傾斜式雙目鏡筒 
正象∶三目鏡筒、傾斜式雙目鏡筒

超寬視場 
(視場數(shù)為26.5)

倒置∶三目鏡筒 
正象∶三目鏡筒、傾斜式三目鏡筒

反射光 
照明裝置

明視場等

BX-RLA2 
100 W鹵素?zé)簦裳b高亮度光源、光纖照明裝置) 
明視場/暗視場/微分干涉/簡易偏振光 
備有視場光闌和孔徑光闌(帶中心輸出機(jī)構(gòu))

U-KMAS 
100 W鹵素?zé)艄饫w照明裝置 
明視場/微分干涉/簡易偏振光

反射光 
熒光

BX-URA2 
100 W汞燈、75 W氙氣燈 
六孔分光鏡組件(標(biāo)準(zhǔn):WB、WG、WU BF等) 
備有視場光闌和孔徑光闌(帶中心輸出機(jī)構(gòu))及光閘機(jī)構(gòu)

-

物鏡轉(zhuǎn)換器

明視場用

六孔、中心輸出六孔、七孔(電動物鏡轉(zhuǎn)換器選購件)

明/暗視場用

五孔、中心輸出五孔、六孔轉(zhuǎn)盤(電動物鏡轉(zhuǎn)換器選購件)

外形尺寸

約248 (寬) × 587 (長) × 249 (高) mm

約394 (寬) × 334 (長) × 276 (高) mm

重量

約9 kg(標(biāo)準(zhǔn)組合)

約6.2 kg (標(biāo)準(zhǔn)組合)

正置金相顯微鏡拍攝您所需的圖像

暗視場觀察法

Darkfield
表面安裝板

暗視場可以讓用戶觀察來自樣本散射和衍射的光線。光源的光線會先穿過照明裝置中的環(huán)形光學(xué)照明器件,然后在樣本上聚焦。樣本上的光線只是由Z 軸上的瑕疵反射形成的。因此,用戶可以觀測到比光學(xué)顯微鏡分辨極限更小的、8 nm 級的微小劃痕和缺陷。暗視場適合檢測樣本上的微小劃痕及瑕疵和檢查表面光滑的樣本,包括晶圓。

偏振光觀察法

Polarized Light
石棉

該顯微觀察技術(shù)所使用的偏振光是由一組濾鏡(檢偏振器和起偏振器)產(chǎn)生的。樣本特征會直接影響系統(tǒng)反射光的強(qiáng)度。該觀察法適用于觀察金相組織(例,球墨鑄鐵中石墨的生長圖案)、礦物、LCD 和半導(dǎo)體材料。

微分干涉(DIC)觀察法

Differential Interference Contrast (DIC)
磁頭

DIC 是一種顯微觀察技術(shù),可以將明視場觀察法中無法檢測到的高度差異,用增強(qiáng)的對比度以浮雕或三維圖像的形式表現(xiàn)出來。該項(xiàng)基于偏振光的技術(shù),擁有三個專門設(shè)計(jì)的棱鏡可供選擇以滿足用戶的需求。該觀察法適用于檢測高度差異極其微小的樣本,包括金相組織、礦物、磁頭研磨面和硬盤表面及晶圓研磨面。

熒光觀察法

Fluorescence
半導(dǎo)體晶圓上的顆粒 

該項(xiàng)技術(shù)適用于觀察那些在受到專門設(shè)計(jì)的濾鏡(可以按照檢測需要制作)照明時會發(fā)出熒光(發(fā)出不同波長的光線)的樣本。該方法通過熒光染色,應(yīng)用于觀測半導(dǎo)體晶圓表面的污物、抗蝕劑的殘?jiān)土押鄣臋z測??梢蕴砑舆x購的復(fù)消色差光源聚光透鏡系統(tǒng),從而為可見光到近紅外線范圍內(nèi)的色差進(jìn)行補(bǔ)償。

IR(紅外線)觀察法

Infra-Red (IR)
硅晶片層下的半導(dǎo)體電路

對使用了硅片、玻璃等易透射紅外線的電子設(shè)備的內(nèi)部進(jìn)行無損檢測時,IR 觀察十分有效。IR 物鏡也可用于近紅外線技術(shù),如:拉曼光譜儀和YGA 激光修復(fù)應(yīng)用。

處理濾鏡

Processing Filter
枝晶

OLYMPUS Stream 擁有各種濾鏡,可用于邊緣檢測、平滑處理和其它操作。使用處理濾鏡在拍攝的圖像上進(jìn)行增強(qiáng)和修改處理后,圖像的特征變?yōu)榭梢暬?。為達(dá)到*效果,可使用預(yù)覽圖檢查或調(diào)整濾鏡的效果。

透射光觀察法

Transmitted Light Observation
LCD彩色濾鏡

對于透明樣本,如,LCD、塑料和玻璃材料,可通過使用各種透射光聚光鏡實(shí)現(xiàn)真正的透射光觀察。使用透射光可以在明視場、暗視場、DIC 和偏振光中對樣本進(jìn)行成像和檢查--所有這些都在一個便捷的系統(tǒng)里。

自動制作3D 圖像(EFI)

Automated 3D Image Creation (EFI)
硬幣細(xì)節(jié)



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