SEM 高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)

高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)SEM 是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗(yàn)機(jī)。用于在疲勞試驗(yàn)過(guò)程中動(dòng)態(tài)時(shí)實(shí)觀測(cè)樣品表面的微觀破壞。可進(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)及800℃以下的高溫試驗(yàn)。適合金屬、陶瓷、巖石材料的常溫、高溫疲勞性能測(cè)試和樣品表面形貌、裂紋擴(kuò)展的測(cè)試。
一.高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn)
1．電子顯微鏡SEM與試驗(yàn)機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu)，具有高防振效果。
2．可以在利用SEM觀察的同時(shí)，進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗(yàn)。
3．可以在常溫～800℃溫度范圍內(nèi)，重復(fù)向樣品加載。
4．試驗(yàn)過(guò)程中，可以使SEM的視野與樣品的變形同步。
二.規(guī)格
1．試驗(yàn)載荷：±5KN
2．zui大位移：±10mm
3．試驗(yàn)溫度：室溫～800℃
4．SEM分辨率：3.4nm
5．放大倍率：×20～30萬(wàn)倍
6．觀測(cè)范圍：6mm～16mm

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