KDK-LT-1 高頻光電導少子壽命測試儀
- 公司名稱 北京恒奧德科技有限公司
- 品牌
- 型號 KDK-LT-1
- 產(chǎn)地 北京恒奧德科技有限公司
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2017/8/21 13:43:56
- 訪問次數(shù) 777
聯(lián)系方式：姜雨柔15810842463,13521121754,18701256112 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
粉塵測定儀，日照計，表觀密度測定儀，流速計，水質分析儀，負壓式采樣器，位置傳感器，空氣壓縮機，電阻測試儀，喊話器，生物顯微鏡，蘇生器，超聲波清洗機，馬弗爐，石油產(chǎn)品粘度計，太陽能電池演示器，測力環(huán)，濾膜，測厚儀，休止角測定儀，紅外加熱板，紫外線檢測儀等
高頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：KDK-LT-1
高頻光電導少子壽命測試儀用途
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。
組成
1.光脈沖發(fā)生裝置
重復頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關斷時間＜0.2-1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
2.高頻源
頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W
3.放大器和檢波器
頻率響應：2Hz～2MHz
4.配用示波器
配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續(xù)可調。
測量范圍
KDK-LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ
北京恒奧德科技有限公司
電 話：/51666869/
傳 真：
手 機：/
：2820129828/1575574360/1321298635/1445496132
網(wǎng) 址：www.hengaodebj。。ｃｏｍ www.54pc。。ｃｏｍ/netshow/ZT11690
www.bjhadkj。。ｃｏｍ www.hadkj88。。ｃｎ.alibaba.com
地 址：北京北洼路90號院16號樓317室（北京市地質工程勘察院院內(nèi)）
采購中心
化工儀器網(wǎng)