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KDK-LT-100C 數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀/少子壽命測(cè)試儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 北京恒奧德科技有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) KDK-LT-100C
  • 產(chǎn)地 北京恒奧德科技有限公司
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2016/3/12 17:40:42
  • 訪問(wèn)次數(shù) 821

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北京恒奧德科技有限公司總部位于北京,是一家致力于自動(dòng)化儀器儀表產(chǎn)品研發(fā)、、銷(xiāo)售和工程服務(wù)的專(zhuān)業(yè)公司!以自主研發(fā)自動(dòng)化儀器儀表和代理國(guó)外為經(jīng)營(yíng)方式!

在企業(yè)發(fā)展過(guò)程中,公司秉承“水利萬(wàn)物而長(zhǎng)流,公司利萬(wàn)眾而存”的經(jīng)營(yíng)理念,堅(jiān)持“客戶(hù)是優(yōu)先”的經(jīng)營(yíng)原則,來(lái)為客戶(hù)提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)!公司產(chǎn)品以的、youyue的質(zhì)量。合理的價(jià)格,完善的售前售后服務(wù),使得每一位客戶(hù)滿(mǎn)意!我公司產(chǎn)品主要涉及石油、化工、環(huán)保、電子、冶金、機(jī)械、光學(xué)、通訊、科研及大專(zhuān)院校、醫(yī)療衛(wèi)生等眾多個(gè)領(lǐng)域,其中主營(yíng)產(chǎn)品有:粉塵測(cè)定儀,日照計(jì),表觀密度測(cè)定儀,流速計(jì),水質(zhì)分析儀,負(fù)壓式采樣器,位置傳感器,空氣壓縮機(jī),電阻測(cè)試儀,喊話(huà)器,生物顯微鏡等。

我們堅(jiān)信 良好的信譽(yù),合理的價(jià)格以及卓悅的產(chǎn)品質(zhì)量是取悅于每一位客戶(hù)的戰(zhàn)術(shù),同時(shí)這也正是我們企業(yè)的生存希望!我們也期盼著社會(huì)各界人士能對(duì)我們的產(chǎn)品提出寶貴的建議。

 

我們的宗旨:為客戶(hù)提供能夠創(chuàng)造更高效益的服務(wù)!

 

www.hengaodebj.com

粉塵測(cè)定儀,日照計(jì),表觀密度測(cè)定儀,流速計(jì),水質(zhì)分析儀,負(fù)壓式采樣器,位置傳感器,空氣壓縮機(jī),電阻測(cè)試儀,喊話(huà)器,生物顯微鏡,蘇生器,超聲波清洗機(jī),馬弗爐,石油產(chǎn)品粘度計(jì),太陽(yáng)能電池演示器,測(cè)力環(huán),濾膜,測(cè)厚儀,休止角測(cè)定儀,紅外加熱板,紫外線檢測(cè)儀等

數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀 型號(hào):KDK-LT-100C

為解決太陽(yáng)能單晶、多晶少子壽命測(cè)量,特按照國(guó)標(biāo)GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測(cè)試儀。                                                      

      該設(shè)備是按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測(cè)定的高頻光電導(dǎo)衰減法”。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國(guó)半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探測(cè)器行業(yè)已運(yùn)用了三十多年,積累了豐富的使用經(jīng)驗(yàn),經(jīng)過(guò)數(shù)次全國(guó)十多個(gè)單位巡回測(cè)試的考驗(yàn),證明是一種成熟可靠的測(cè)試方法,特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測(cè)量;也可對(duì)硅片進(jìn)行測(cè)量,給出相對(duì)壽命值。方法本身對(duì)樣品表面的要求為研磨面,制樣簡(jiǎn)便。

 

KDK-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀有以下特點(diǎn):

1、 可測(cè)量太陽(yáng)能級(jí)多晶硅塊、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面無(wú)需拋光,直接對(duì)切割面或研磨面進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)可測(cè)量多晶硅檢驗(yàn)棒及集成電路、整流器、晶體管級(jí)硅單晶的少子壽命。

2、  可測(cè)量太陽(yáng)能級(jí)單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對(duì)壽命,表面無(wú)需拋光、鈍化。

3、配備軟件的數(shù)字示波器,液晶屏上直接顯示少子壽命值,同時(shí)顯示動(dòng)態(tài)光電導(dǎo)衰退波形,并可聯(lián)用打印機(jī)及計(jì)算機(jī)。

4、配置兩種波長(zhǎng)的紅外光源:

a、紅外光源,光穿透硅晶體深度較深≥500μm,有利于準(zhǔn)確測(cè)量晶體少數(shù)載流子體壽命。

b、短波長(zhǎng)紅外脈沖激光器,光穿透硅晶體深度較淺≈30μm,但光強(qiáng)較強(qiáng),有利于測(cè)量低阻太陽(yáng)能級(jí)硅晶體。

5、測(cè)量范圍寬廣

測(cè)試儀可直接測(cè)量:

a、研磨或切割面:電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命,切割片的少子相對(duì)壽命。

b、拋光面:電阻率在0.3~0.01Ω•㎝范圍內(nèi)的硅單晶、鍺單晶拋光片。

壽命可測(cè)范圍     0.25μS—10ms      

 

 

北京恒奧德科技有限公司  

電  話(huà):/51666869/

傳  真:                      

手  機(jī):/             

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