氣氛控制開爾文探針系統(tǒng)

RHC020-氣氛控制掃描開爾文探針

開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界zui高分辨率的測試系統(tǒng) RHC020
是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃，采用*的電子和硬件系統(tǒng)即時監(jiān)測溫度和濕度變化，附加表面光伏SPV020及表面光電壓譜SPS030模塊，可對光敏感樣品進(jìn)行強(qiáng)度或波長可變的激發(fā)。

技術(shù)參數(shù)：
● 2mm和50μm探針
● 功函分辨率1-3meV（2mm探針），5-10meV（50μm探針，光學(xué)防震臺）
● 50mmX50mmzui大掃描面積
● 318納米定位分辨率
● 跟蹤系統(tǒng)自動控制樣品和探針距離● 附加手動高度控制（25.4mm KP 平移）
● 過零信號檢測系統(tǒng)抑制寄生電容
● 50mmX50mm樣品加熱器
● 自動相對濕度控制至1%（10-100%RH）

選件
● 直插型探針支架：2mm-50μm
● 自動溫度控制
● 表面光伏模塊SPV020和SPS030