XD7500VR DAGE X光檢查機(jī)

X光檢查在PCB及半導(dǎo)體行業(yè)中被認(rèn)為是zui關(guān)鍵的測試步驟。在當(dāng)今的封裝設(shè)計(jì)中發(fā)現(xiàn)缺陷是非常重要的，因此，X光系統(tǒng)必須在不同的觀察角度能夠提供高分辨率、高放大倍率和高對(duì)比度的圖像。
在評(píng)定一臺(tái)X-Ray時(shí)，檢測速度的快慢和用戶友界面是否友好都是*的。
DAGE XD7600 XiDAT系列X光機(jī)安裝的軟件版本為具有圖像引導(dǎo)功能的DAGE11。該軟件使用方便，具有進(jìn)行亞微米級(jí)的觀察、自動(dòng)檢測、動(dòng)態(tài)的波動(dòng)分離、圖像抓拍、zui友好的用戶界面等優(yōu)勢。
該設(shè)備是標(biāo)準(zhǔn)的配置，能夠提供實(shí)時(shí)的高質(zhì)量數(shù)字式的X光圖像，圖象的分辨率和灰階都有很大程度的增強(qiáng)，zui大可達(dá)70度的傾角觀察。
儀器介紹
X光測試儀設(shè)計(jì)滿足PCB和半導(dǎo)體工業(yè)的增長需求，用戶可以輕松獲取高質(zhì)量、高放大倍數(shù)和高分辨率下的被測物任何方位的圖像。由于采用開管（Open Tube）技術(shù)，在放大倍數(shù)方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了采用閉管（Closed Tube）技術(shù)的X光檢測儀達(dá)到亞微米級(jí)，能滿足客戶更高精度的需求。
觀察右下方的照片，你可以對(duì)該儀器在PCB和半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用有一個(gè)大概的了解。在對(duì)物體需要進(jìn)行幾百甚至幾千倍的放大觀察時(shí)， 你一定需要該機(jī)器的協(xié)助！在制造業(yè)向生產(chǎn)更精巧，更密集的方向發(fā)展時(shí)，該儀器就顯得*，進(jìn)一步的具體應(yīng)用，請(qǐng)與我們聯(lián)絡(luò)！

主要特點(diǎn)
DAGE7500 VR X光無損檢測系統(tǒng)  
主要特征：
-zui小分辨率：950納米（0.95 微米）；
-影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度（共140度），旋轉(zhuǎn)360度；
-圖像采集:1.3M萬數(shù)字CCD；
-zui大檢測區(qū)域面積: 18”x 16”（458 x 407 mm）；
-zui大樣品尺寸: 20”x 17.5”（508 x 444mm）；
-系統(tǒng)zui大放大倍數(shù): 至5650X；
-顯示器: 20.1"（DVI interface）數(shù)字彩色平板LCD,（1600 x 1200PIXELS）；
-安全性: 在機(jī)器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等
DAGE7600 NT X 光無損檢測系統(tǒng)
-zui小分辨率: 250納米（0.25微米）；
-影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度（共140度），旋轉(zhuǎn)360度；
-zui大檢測區(qū)域面積: 18”x 16”（458 x 407 mm ）；
-zui大樣品尺寸: 20”x 17.5”（508 x 444 mm ） ；
-系統(tǒng)zui大放大倍數(shù): 至 6500 X；
-圖像采集: 1.3 M萬數(shù)字CCD；
-顯示器: 20.1"（DVI interface）數(shù)字彩色平板LCD,（1600 x 1200 PIXELS）；
-安全性: 在機(jī)器表面任何地方 X 光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 ……。
DAGE XD7800 VR或NT 大尺寸樣品X光無損檢測系統(tǒng)
Dage XD7800VR或NT是專門用于大尺寸樣品的X光無損檢測的系統(tǒng)。
主要特征：
-zui小分辨率: 950 納米 （0 .95 微米 ）；
-影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70 度（共 140 度），旋轉(zhuǎn) 360 度；
-zui大檢測區(qū)域: 24 ” x 30” （610 x 762 mm ）；
-zui大樣品尺寸: 24.3” x 33” （617 x 838 mm ）；
-zui大樣品重量: 10KG ；
-系統(tǒng)zui大放大倍數(shù): 至 5650 X ；
-圖像采集: 1.3 M 萬數(shù)字 CCD ；
-顯示器: 20" （DVI interface） 數(shù)字彩色平板 LCD