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Nanite 大掃描范圍原子力顯微鏡

參考價 200000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京億誠恒達科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 Nanite
  • 產(chǎn)地 瑞士
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2021/3/15 14:25:43
  • 訪問次數(shù) 628
產(chǎn)品標(biāo)簽

原子力顯微鏡

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億誠恒達科技有限公司,在北京和香港兩地注冊。北京公司位于北京海淀中關(guān)村核心區(qū)域,是一家專門代理營銷進口科學(xué)儀器、測試測量設(shè)備的高科技企業(yè),所經(jīng)營的產(chǎn)品涵蓋材料科學(xué)、化學(xué)分析、綠色能源、半導(dǎo)體及微電子科學(xué)等領(lǐng)域。公司本著“誠信、務(wù)實、品質(zhì)、服務(wù)”的經(jīng)營理念,已經(jīng)為國內(nèi)許多用戶提供了*的儀器設(shè)備,專業(yè)的技術(shù)咨詢和完善的售后服務(wù)。

公司主要代理產(chǎn)品有:*材料試驗機,疲勞試驗機,沖擊試驗機,電化學(xué)工作站,恒電位/恒電流儀,石英晶體微天平,三維形貌儀,輪廓儀,原子力顯微鏡(AFM),掃描探針顯微鏡(SPM),摩擦磨損試驗機,瓶蓋扭矩測量儀,軸承扭矩測量儀,高頻疲勞試驗機。

億誠恒達科技有限公司愿與客戶攜手,共創(chuàng)美好未來!

萬能材料試驗機,疲勞試驗機,沖擊試驗機,電化學(xué)工作站,恒電位/恒電流儀,石英晶體微天平,三維形貌儀,輪廓儀,原子力顯微鏡(AFM),掃描探針顯微鏡(SPM),摩擦磨損試驗機,瓶蓋扭矩測量儀,軸承扭矩測量儀,高頻疲勞試驗機

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 10萬-50萬
儀器種類 原子力顯微鏡 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,農(nóng)業(yè),文體,石油

大掃描范圍原子力顯微鏡儀器簡介:

Nanite 大掃描范圍原子力顯微鏡系統(tǒng)是納米測量和成像的*工具。該系統(tǒng)提供三維數(shù)據(jù)。原子力顯微鏡測量是非破壞性的,無需制備樣品。此外,機械運動平臺允許批量的,預(yù)編程測量,使用大型花崗巖自動X/Y/Z樣品臺可測試尺寸達180mm樣品的不同區(qū)域,用戶甚至可以定制更大的移動樣品臺。Nanite設(shè)計靈活、操作簡單,是您理想的全自動研究級AFM系統(tǒng)。

瑞士Nanosurf公司,的專業(yè)研發(fā)掃描探針原子力顯微鏡制造商和技術(shù)服務(wù)供應(yīng)商,在掃描探針原子力顯微鏡領(lǐng)域有超過15年的研發(fā)經(jīng)驗,一直致力于新型掃描探針原子力顯微鏡的創(chuàng)新性研發(fā)和制造。目前已推出新一代低噪音-快速掃描-超高穩(wěn)定性的AFM 和大掃描范圍Nanite AFM系統(tǒng)。瑞士Nanosurf公司承諾提供高品質(zhì)的服務(wù)和客戶支持,同時還提供納米技術(shù)的OEM 客戶定制,外包等業(yè)務(wù)。



技術(shù)參數(shù):

原子力顯微鏡測量模式: 接觸式原子力顯微鏡,真正非接觸式原子力顯微鏡,橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM),導(dǎo)電原子力顯微鏡,磁力顯微鏡(MFM),開爾文探針(Kelvin Probe),(SThM),電容和靜電力顯微鏡(EFM),高級的納米光刻和納米操作能力,音叉原子力顯微鏡,三維掃描成像。 

●  原子力顯微鏡掃描器測量范圍:110um X & Y range,22um Z range 
●  大尺寸樣品臺,全自動測量直徑為160mm樣品。 
●  PZT/Voice Coil雙模式技術(shù)AFM 
●  全自動運動平臺,馬達驅(qū)動 
●  批處理軟件,自動圖像拼接縫合技術(shù),可以測量超大樣品的三維形貌像 
●  *的32-bit DSP控制器,反饋技術(shù)(掃描范圍>10um高掃描20 Hz,消除爬行現(xiàn)象) 
●  可以進行納米壓痕和劃痕實驗 
●  光學(xué)系統(tǒng), XY閉環(huán)掃描技術(shù) 
●  *開放性軟硬件構(gòu)架設(shè)計, 并開放所有源代碼供您的二次開發(fā)



主要特點:

● 原子力顯微鏡掃描器測量范圍:110um X & Y range,22um Z range

● 大尺寸樣品臺,全自動測量直徑為160mm樣品。

● PZT/Voice Coil雙模式技術(shù)AFM

● 全自動運動平臺,馬達驅(qū)動

● 批處理軟件,自動圖像拼接縫合技術(shù),可以測量超大樣品的三維形貌像

● *的32-bit DSP控制器,反饋技術(shù)(掃描范圍>10um時高掃描20 Hz,消除爬行現(xiàn)象)

● 可以進行納米壓痕和劃痕實驗

● 光學(xué)系統(tǒng), XY閉環(huán)掃描技術(shù)

● *開放性軟硬件構(gòu)架設(shè)計, 并開放所有源代碼供您的二次開發(fā)



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