S4TStar(TXRF) 全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)S4 TStar
- 公司名稱 鉑悅儀器(上海)有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 S4TStar(TXRF)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/1/2 13:00:17
- 訪問次數(shù) 4488
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巖芯分析儀,微區(qū)X射線熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術(shù)與考古分析儀
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
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儀器種類 | 臺式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品,制藥 |
S4 TStar — TXRF的明星
數(shù)十年來,X 射線熒光(XRF)光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析,檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴(kuò)展了XRF 的應(yīng)用范圍,可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此,TXRF 成為原子吸收光譜法(AAS)以及電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)或質(zhì)譜法(ICP-MS)的理想的替代性方法?,F(xiàn)在,S4 TStar 在臺式TXRF 光譜儀的性能、自控和質(zhì)量方面開創(chuàng)了新的標(biāo)準(zhǔn)。
全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)S4 TStar優(yōu)異的樣品通用性
S4 TStar 是一種通用性很強(qiáng)的工具,可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。它的樣品通用性ICP。
ICP 只能分析*溶解的液體樣品。
圖一:30 毫米石英片:對液體、固體和懸浮液進(jìn)行元素分析
圖二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科學(xué)研究
圖三:顯微鏡載玻片:臨床和生物學(xué)樣品,直接分析細(xì)胞培養(yǎng)物、涂片和切片
圖四:矩形載體:尺寸小于54 毫米,用于膜片、濾片、納米顆粒層定制的反射介質(zhì)
全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)S4 TStar行業(yè)應(yīng)用:
· 藥品
檢測活性藥物成分中的催化元素:液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm
· 食品
糧農(nóng)組織和世衛(wèi)組織的食品標(biāo)準(zhǔn):大米中的砷含量小于10 / 40ppb。
· 環(huán)境監(jiān)測
環(huán)境監(jiān)測:地表水,廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。