USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀
- 公司名稱 上海西努光學科技有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/11/14 20:06:33
- 訪問次數(shù) 4190
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奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡,iX高速攝像機,標樂金相制樣設(shè)備,威爾遜硬度計,navitar鏡頭,日立掃描電鏡,加拿大WDI光學設(shè)備
奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率,因此zui適用于光學元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。
實的測定功能
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。
◆測定反射率
測定以物鏡聚光φ17~70μm的微小點的反射率。
◆測定膜厚
活用反射率數(shù)據(jù),測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。
◆測定物體顏色
根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關(guān)數(shù)值。
◆測定透過率
從受臺下部透過φ2mm的平行光,測定平面樣品的透過率。(選配)
◆測定入射角為45度的反射率
從側(cè)面向45度面反射φ2mm的平行光,測定其反射率。(選配)
域的高精度&高速測定
◆實現(xiàn)高速測定
使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定,從而實現(xiàn)高速測定。
◆zui適用于測定細小部件、鏡片的反射率
新設(shè)計了可以在φ17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面,也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。
◆測定反射率時,不需要背面防反射處理
將物鏡與環(huán)形照明組合,不需要進行被檢測物背面的防反射處理,就可測定zui薄0.2mm的反射率*。
◆可選擇的膜厚測定方法
USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進行單層膜或多層膜的膜厚解析??梢愿鶕?jù)用途選擇*的測定方法。
:規(guī)格 | |||||
| 反射率測定 | 透過率測定*1 | 45度反射測定*1 | ||
名稱 | 近紅外顯微分光測定儀 | 近紅外顯微分光測定儀用 透過測定選配件 | 近紅外顯微分光測定儀用 45度反射測定選配件 | ||
型號 | USPM-RU-W | ||||
測定波長 | 380~1050nm | ||||
測定方法 | 對參照樣品的比較測定 | 對*基準的透過率測定 | 對參照樣品的比較測定 | ||
測定范圍 | 參照下列對物鏡的規(guī)格 | 約ø2.0mm | |||
測定 再現(xiàn)性(3σ)*2 | 反射率測定 | 使用10×、20×物鏡時 | ±0.02[%]以下(430-1010nm)、 ±0.2[%]以下(上述以外) | ±1.25[%]以下(430-1010nm)、 ±5.0[%]以下(左側(cè)記載除外) | |
使用40×物鏡時 | ±0.05[%]以下(430-950nm)、 ±0.5[%]以下(上述以外) |
| |||
厚膜測定 | ±1% | - | |||
波長顯示分解能 | 1nm | ||||
照明附件 | 鹵素燈光源 JC12V 55W(平均壽命700h) | ||||
位移受臺 | 承載面尺寸:200(W)×200(D)mm 承重:3 kg 工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm | ||||
傾斜受臺 | - | 承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm 承重: 1 kg 工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1° | |||
裝置質(zhì)量 | 主體:約26 kg(PC除外) | 主體:約31 kg(PC除外)*3 | |||
控制電源箱:約6.7kg | |||||
裝置尺寸 | 主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm | 主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm | |||
控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm | |||||
電源規(guī)格 | 輸入規(guī)格:100-240V (110VA) 50/60Hz | ||||
使用環(huán)境 | 水平無振動的場所 溫度:15~30℃ 濕度:15~60%RH(無結(jié)露) |
*1 選件組件 *2 本社測定條件下的測定 *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。
對物鏡 | |||
型號 | USPM-OBL10X | USPM-OBL20X | USPM-OBL40X |
倍率 | 10x | 20x | 40x |
NA | 0.12 | 0.24 | 0.24 |
測定范圍*4 | 70μm | 34μm | 17μm |
工作距離 | 14.3mm | 4.2mm | 2.2mm |
樣品的曲率半徑 | ±5mm~ | ±1mm~ | ±1mm~ |
*4 點徑