電子產(chǎn)品研發(fā)、水質(zhì)監(jiān)測儀、實驗室設備、化工產(chǎn)品、五金電器、工業(yè)環(huán)境檢測儀、干燥箱、干燥器、無油真空泵、無損探傷儀器及耗材、光學器材、常規(guī)儀器。
美國磁通I 磁粉探傷試片
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率;確定磁場方向和相對的磁場強度;平衡多向磁場。
標準I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,用于縱向和軸向磁場。
型號:KSC-430 標準I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸。
美國磁通I 磁粉探傷試片,,
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相關產(chǎn)品:ZL-60D熒光滲透探傷劑,ZL-37后乳化熒光滲透劑,ZL-27A后乳化熒光滲透劑,ZL-56水洗式熒光滲透劑,SKD系列著色滲透探傷劑,ZP-4B干粉顯像劑,14A熒光磁粉,ZB100F熒光探傷燈,Y-1/Y-7/Y-8磁軛探傷儀,A型磁粉探傷試塊試片,油機載液。。