FISCHER膜厚測試儀 FISCHER膜厚測試儀價格

FISCHER膜厚測試儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng)。

FISCHER膜厚測試儀它的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測量面積上產(chǎn)生很大的輻射強度，這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行測量。

　　在經(jīng)濟上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的Fischer專有X-射線光學(xué)設(shè)計使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測量和成分分析。XDVM-µ可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。

　　具有強大功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM®V6軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。

　　儀器介紹:

　　WinFTMV6是一套專門為解決含量分析和鍍層測量的軟件

　　WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平臺上運行；因為透過簡單操作及準(zhǔn)確的分析結(jié)果，所以便能夠提升生產(chǎn)力。WinFTMV6還有以下的特色……

　　特大屏幕能提供畫中畫顯示分析結(jié)果，光譜及彩色影像圖，圖像亦可以用JPG格式儲存。

　　儀器能同時間分析zui多24種不同的元素；根據(jù)可檢定的元素范圍由xppm到*，所以原子序號可由氯Cl=17）到鈾（UraniumZ=92）。

　　可同時測量23層不同元素鍍層的厚度。

　　共有1024頻道顯示清晰光譜，可隨意選用不同顏色及儲存光譜圖，方便日后加以分析。

　　因為不同受檢樣本的光譜可以進(jìn)行比較，所以便快捷和容易地得出兩種不同樣本含量的分別。

　　快速的頻譜分析以決定合金成分。

　　可以隨意創(chuàng)建元素分析應(yīng)用程式。

　　透過預(yù)先設(shè)入的14種純元素作為資料庫，儀器便可以不需用標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校亦能以基本系數(shù)（FP）進(jìn)行分析；如果輸入已知的元素更可快捷地得出含量結(jié)果。

　　可同時接受zui多10種不同含量的標(biāo)準(zhǔn)片來調(diào)校儀器，所得出的結(jié)果更精確及可信賴。

　　用滑鼠選擇已經(jīng)儲存的應(yīng)用檔案后，便可即時進(jìn)行含量分析。

　　測量樣品后，可透過“analysis”功能按鍵，儀器便會自動偵測內(nèi)里的元素含量。

　　自帶SOFTWAREPDM（ProductDataManagement產(chǎn)品數(shù)據(jù)管理）提供了以下的附加功能：

　　通過可定義的文件夾實現(xiàn)產(chǎn)品文件管理（產(chǎn)品文件包括應(yīng)用，數(shù)據(jù)呈現(xiàn)方式，打印形式定義，輸出模板設(shè)置和記事簿）。

　　打印形式可由用戶隨意設(shè)定，例如輸出公司標(biāo)題之類的小圖片。包括字體管理以及隨意定義頁面設(shè)置。

　　單個的應(yīng)用可連接至任何的產(chǎn)品文件（這種連接大大減少了校驗和標(biāo)準(zhǔn)化所需的步驟數(shù)）。

　　使用條形碼標(biāo)簽以及可選擇的條形碼讀入器鍵盤，可實現(xiàn)產(chǎn)品自動選擇。

　　允許僅對選擇的數(shù)據(jù)進(jìn)行評估。

　　從選擇的數(shù)據(jù)塊中進(jìn)行單組讀數(shù)的數(shù)據(jù)輸出。

　　FISCHER膜厚測試儀可以透過RS232接口、磁碟片或網(wǎng)絡(luò)卡將所要的資料匯出到其他電腦進(jìn)行統(tǒng)計。

　　XYZ運行程序功能：隨機的單個點，*點和zui后一點以及距離固定的中間點，列陣點，鼠標(biāo)左鍵選點功能，右鍵可作為控制鍵。

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