ICP6300 全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀

熱電iCAP6300ICP*的智能攝譜功能可拓展鋼鐵、有色、地質(zhì)等復(fù)雜基體用戶的使用范圍。在原料實(shí)時(shí)檢測(cè)、產(chǎn)品質(zhì)量控制以及日后樣品信息再分析有著廣闊的應(yīng)用空間。

熱電iCAP6300ICP分析樣品的同時(shí)，智能獲得樣品中所有譜線的“指紋照片”,并與分析數(shù)據(jù)同時(shí)保存和調(diào)出

根據(jù)”指紋照片”：

① 計(jì)算機(jī)自動(dòng)檢索可能存在的元素--定性分析。

② 與標(biāo)準(zhǔn)譜圖想比較，自動(dòng)給出半定量結(jié)果，誤差小于25%。

③ 照片相減，快速比較兩個(gè)樣品的差異或扣除空白,扣除基體。

二維或三維譜圖顯示，更易了解譜線周圍的干擾情況。

1. 定量、半定量分析

l 可方便地選擇元素的任意一條譜線或幾條譜線同時(shí)進(jìn)行定量分析

l 由于檢測(cè)器是連續(xù)波長覆蓋，背景選擇點(diǎn)不受限制

l 在獲得分析數(shù)據(jù)的同時(shí)，給出個(gè)分析譜線的譜圖

l 可方便進(jìn)行數(shù)據(jù)再處理，包括標(biāo)準(zhǔn)曲線

l 采用一元素多達(dá)5條譜線的半定量分析軟件,數(shù)據(jù)可靠

2.背景校正，干擾因子校正，結(jié)合譜線選擇的靈活性，能滿足各種樣品的分析要求

綜上所述，熱電 iCAP6300*的智能攝譜功能不僅能滿足合金材料所含高低含量元素的同時(shí)分析，還能進(jìn)行若干個(gè)樣品成分的比對(duì)、未知樣品剖析，樣品含量的半定量分析等拓展功能。

熱電ICP6300的八大特點(diǎn)

經(jīng)驗(yàn)：熱電ICP6300的八大特點(diǎn)（與瓦里安,PE對(duì)比）

賽暢儀器公司轉(zhuǎn)載，以饗客戶

1、熱電公司是世界zui大的分析儀器公司；世界*臺(tái)ICP光譜儀的誕生地；世界zui大的ICP制造商；在和中國擁有zui多的用戶群，其中基體復(fù)雜行業(yè)如地質(zhì)、鋼鐵、有色金屬、石化、材料等占到90%以上市場；zui完善的售后服務(wù)：在中國有4個(gè)辦事處，6個(gè)維修站30名專業(yè)維修工程師為全國600多家服務(wù)，真正做到24小時(shí)內(nèi)維修響應(yīng)；專職售后服務(wù)工程師為用戶提供快速周到的服務(wù)。

2、真正的全譜直讀型ICP光譜儀，166-847nm，zui寬的波長測(cè)量范圍，真正全譜連續(xù)覆蓋。

可測(cè)定波長范圍內(nèi)的任意一條譜線，譜線選擇靈活，可方便地實(shí)現(xiàn)一元素多條譜線同時(shí)測(cè)定或高含量元素用弱譜線，微量元素用靈敏線的*分析方式。自動(dòng)拓寬線性范圍，實(shí)現(xiàn)樣品中痕量、主量一次同時(shí)測(cè)定。背景校正點(diǎn)選擇靈活

PE2100：單道掃描型

PE5300：235個(gè)通道的多道型

3、第六代高效率CID檢測(cè)器，291，600個(gè)獨(dú)立檢測(cè)單元，真正二維分光，獲得三維譜圖

CID特性：真正全譜檢測(cè)；*“溢出”；隨機(jī)存取積分方式；非破壞性讀取

CID檢測(cè)器的強(qiáng)大優(yōu)勢(shì)：1、每個(gè)檢測(cè)單元獨(dú)立檢測(cè)，獨(dú)自選擇*暴光時(shí)間，同時(shí)獲得痕量元素的高靈敏度和高含量元素的高精度2、全譜檢測(cè)，可獲得未知樣品的指紋照片，并*保存及再計(jì)算，獲得定性和半定量結(jié)果。

CID全譜（譜線多）的應(yīng)用：1、譜線選擇余地寬，有效避開干擾；2、選擇弱線，不經(jīng)稀釋直接進(jìn)行高含量測(cè)定；3、實(shí)時(shí)背景校正；4、很易于短時(shí)間或間斷的進(jìn)樣系統(tǒng)連接；

CCD檢測(cè)器：1、只能同時(shí)暴光，溢出現(xiàn)象嚴(yán)重，無法同時(shí)獲得高含量和低含量的結(jié)果;2、破壞性讀數(shù)，檢測(cè)后數(shù)據(jù)及消失，無法進(jìn)行后分析和處理，更不可能獲得指紋照片*保存;3、只能獲得一維照片，譜線選擇太少，不能避開實(shí)際樣品中的干擾;4、只能用于樣品基體簡單且元素含量在同樣數(shù)量級(jí)的檢測(cè)。

SCD檢測(cè)器：CCD檢測(cè)器分成235段，僅能獲得6%的全譜信息，僅解決了段間的溢出，段內(nèi)溢出仍沒解決，其他性能無任何改進(jìn)。

PE2100，瓦里安715：簡單CCD檢測(cè)器

PE5300：SCD檢測(cè)器

瓦里安735：改進(jìn)的CCD檢測(cè)器，段間加了儲(chǔ)流器和防溢出槽

4、*的智能攝譜功能，*具有Research Mode研究模式的儀器

分析樣品的同時(shí)，拍攝全譜照片，智能獲得樣品中所有譜線的“指紋照片”,并與分析數(shù)據(jù)同時(shí)保存和調(diào)出根據(jù)“指紋照片”：

①計(jì)算機(jī)自動(dòng)檢索樣品中可能存在的元素——定性分析

②與標(biāo)準(zhǔn)譜圖相比較，自動(dòng)給出半定量結(jié)果。

③可在將來獲得預(yù)先未準(zhǔn)備測(cè)定的元素的結(jié)果。

④照片相減，快速比較兩個(gè)樣品的差異（確定樣品問題），或扣除空白,扣除基體

⑤作為一種統(tǒng)一的文件進(jìn)行保存, 以備今后進(jìn)行進(jìn)一步分析研究

二維或三維譜圖顯示，更易了解譜線周圍的干擾情況。

定量、半定量分析

★可方便地選擇元素的任意一條譜線或幾條譜線同時(shí)進(jìn)行定量分析

★由于檢測(cè)器是連續(xù)波長覆蓋，背景選擇點(diǎn)不受限制

★在獲得分析數(shù)據(jù)的同時(shí)，給出個(gè)分析譜線的譜圖

★可方便進(jìn)行數(shù)據(jù)再處理，包括標(biāo)準(zhǔn)曲線

★采用一元素多達(dá)5條譜線的半定量分析軟件,數(shù)據(jù)可靠

背景校正，干擾因子校正，結(jié)合譜線選擇的靈活性，能滿足各種樣品的分析要求

其他公司無此性能，獲得樣品檢測(cè)結(jié)果的同時(shí)樣品信息*丟失，不能進(jìn)行定性半定量

5、垂直火炬靈敏度zui高（僅比水平火炬低1-2倍），非常小的基體效應(yīng)，寬的線性范圍。特別適合農(nóng)業(yè)、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石化、商檢等基體復(fù)雜的領(lǐng)域。

熱電ICP6300同時(shí)具有垂直、水平和雙向觀測(cè)方式可供選擇，垂直觀測(cè)背景干擾少，水平觀測(cè)靈敏度zui高（TraceTech技術(shù)）

其他公司一般不提供垂直觀測(cè)數(shù)據(jù)，因?yàn)槠浯怪庇^測(cè)方式要比水平觀測(cè)差1-2個(gè)數(shù)量級(jí)；

提供的水平觀測(cè)數(shù)據(jù)靈敏度數(shù)據(jù)，僅為標(biāo)準(zhǔn)溶液及樣品無任何干擾的結(jié)果，在檢測(cè)實(shí)際樣品（尤其是基體復(fù)雜樣品）時(shí)，水平觀測(cè)的信燥比非常差。

另外水平觀測(cè)方式在應(yīng)用于復(fù)雜樣品時(shí)，還存在炬管消耗嚴(yán)重的問題

PE2100：僅有雙向（基于水平）方式，其水平觀測(cè)采用空氣切割，需配空氣壓縮機(jī)，且炬管集碳和消耗zui嚴(yán)重，火炬受空氣影響不穩(wěn)定，且空氣嚴(yán)重干擾紫外區(qū)元素的測(cè)定。

PE5300：可以選擇雙向和垂直，垂直靈敏度差，雙向技術(shù)同2100

瓦里安：水平和垂直，其垂直靈敏度zui差，常向客戶推薦水平，致使其用戶無法使用（如河南省質(zhì)檢所采購3年至今無法使用）

6、全新光路系統(tǒng)zui簡單且全部固定、沒有任何可移動(dòng)部件，光室僅為其他儀器的四分之一，四線矯正快速恒溫，不僅可以獲得的儀器穩(wěn)定性和重復(fù)性，更可節(jié)約1/3—1/2的氬氣。

開機(jī)15分鐘即可開始測(cè)樣，快速和高性能同時(shí)兼得。

PE2100：光室單線矯正不恒溫，快速開機(jī)檢測(cè)是在犧牲了儀器穩(wěn)定性和重復(fù)性基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)的

PE5300：開機(jī)1小時(shí)才可作樣

7、*的光學(xué)分辨率：200nm處小于0.007nm

PE2100：0.009nm在200nm處

PE5300：0.006nm在200nm 是利用31um的小狹縫并4次移動(dòng)狹縫后所演示的“分辨率”，并非真實(shí)做樣時(shí)分辨率

63um、128 um的分辨率? 實(shí)際應(yīng)用中其分辨率為0.008

瓦里安：0.009nm在200nm處

瓦里安Vista僅用70個(gè)光譜級(jí)次，每個(gè)級(jí)次所包含的波段很寬，而中階梯分光光譜的分辨率在中央位置較好，離開中央位置越遠(yuǎn)的譜線分辨越差，因此Vista的分辨率非常不*。提供的分辨率是那些處在中階梯分光光譜*位置的譜線，而同一級(jí)次在檢測(cè)器邊緣譜系的分辯率較差。