多準(zhǔn)直器半自動(dòng)BA100-B-MFF鍍層測(cè)厚儀

美國(guó)博曼多準(zhǔn)直器半自動(dòng)BA100-B-MFF鍍層測(cè)厚儀 介紹

多準(zhǔn)直器半自動(dòng)BA100-B-MFF鍍層測(cè)厚儀: 美國(guó)博曼BA100系列多準(zhǔn)直器半自動(dòng)臺(tái)鍍層測(cè)厚儀，是原CMI公司的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在2000年被牛津儀器收購(gòu)后整體重新組建的K alpha公司，經(jīng)過(guò)多年的醞釀、研發(fā)并于2010年發(fā)布的Bowman品牌的鍍層測(cè)厚儀；廣泛應(yīng)用于如下領(lǐng)域：PCB、FPC、SMT、LED、連接器、端子、緊固件、五金、汽車零部件、衛(wèi)浴等行業(yè)。主要用于產(chǎn)品鍍層厚度測(cè)量、元素分析、鍍液分析。

美國(guó)博曼BA100系列鍍層測(cè)厚儀工作原理：利用X射線照射產(chǎn)品樣品，樣品的不同元素發(fā)出不同能量大小的二次X射線熒光，儀器分析熒光的波長(zhǎng)和能量大小從而無(wú)損計(jì)算出鍍層的厚度。

美國(guó)博曼多準(zhǔn)直器半自動(dòng)BA100-B-MFF鍍層測(cè)厚儀的特性：

• 測(cè)量元素范圍為Ti²²--U⁹²
• 可同時(shí)測(cè)5層鍍層（4層鍍層+1層基材層）
• 成份分析zui多可達(dá)25種元素
• 測(cè)量精度高，測(cè)量結(jié)果精確至μin
• 測(cè)量單位可選擇um、uin、mils、nm
• 配備Si-Pin高分辨半導(dǎo)體固態(tài)探測(cè)器，有效區(qū)分相鄰元素的譜峰，提高穩(wěn)定性和靈敏度
• 開(kāi)機(jī)預(yù)熱時(shí)間短，15秒左右即可正常進(jìn)行測(cè)量工作
• 儀器與電腦僅需一根USB線連接，有效避免各種干擾，減少出錯(cuò)幾率
• 電腦無(wú)需專門的視頻卡，節(jié)省成本
• 儀器前置面板設(shè)置有測(cè)量機(jī)構(gòu)上下移動(dòng)按鈕、測(cè)量的快捷按鈕
• 配備高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍，具有測(cè)量位置預(yù)覽功能
• 基于Net framework框架的Xralizer軟件，均有直觀的圖標(biāo)引導(dǎo)用戶操作的界面
• 具有輔助的紅點(diǎn)鐳射聚焦功能，有效避免人為測(cè)量誤差
• Z軸程控聚焦，可測(cè)外形高度≤140mm的產(chǎn)品
• Xralizer軟件下的強(qiáng)大的報(bào)告編輯軟件，可按客戶需求編輯報(bào)告，
• 產(chǎn)品報(bào)告可以直接打印，也可轉(zhuǎn)換成PDF、RTF、Excel、Text、Image等文件，
• 產(chǎn)品報(bào)告可自動(dòng)顯示每次測(cè)量點(diǎn)的圖片，可顯示：均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、波動(dòng)范圍，CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖等
• 開(kāi)放型的鍍層應(yīng)用可由客戶依據(jù)引導(dǎo)圖標(biāo)自行建立

美國(guó)博曼多準(zhǔn)直器半自動(dòng)BA100-B-MFF鍍層測(cè)厚儀的準(zhǔn)直器系統(tǒng)：

• 配置4個(gè)準(zhǔn)直器的多準(zhǔn)直器系統(tǒng)
• 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格：Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3、Φ1.5mm
• 可選規(guī)格：①0.05x0.25、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm；②0.05x0.05、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm；③0.025x0.05、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3m

美國(guó)博曼多準(zhǔn)直器半自動(dòng)BA100-B-MFF型鍍層測(cè)厚儀的工作倉(cāng)：

• 開(kāi)槽式工作臺(tái)
• XY軸手動(dòng)，Z軸程控，程控行程≤140mm
• 工作倉(cāng)內(nèi)部尺寸（寬×深×高）：314×390×140mm

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美國(guó)博曼多準(zhǔn)直器半自動(dòng)BA100-B-MFF型鍍層測(cè)厚儀享有自購(gòu)機(jī)之日計(jì)起為期12月的質(zhì)量保證期，特殊情況可以延長(zhǎng)

美國(guó)博曼BA100系列鍍層測(cè)厚儀按照應(yīng)用的不同擁有多種不同的稱謂：鍍層膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳測(cè)厚儀、支架測(cè)厚儀、X-Ray測(cè)厚儀、金厚測(cè)試儀、銀層測(cè)厚儀、臺(tái)式膜厚儀、X射線測(cè)厚儀、測(cè)厚儀、膜厚儀等。