SYS-SC-X 小麥品質(zhì)分析和面粉麩星檢測(cè)儀

小麥品質(zhì)分析和面粉麩星檢測(cè)儀用途：
快速測(cè)量小麥的粒數(shù)、千粒重、粒形、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等，面粉的麩星、砂石的大小和含量。用于實(shí)驗(yàn)室快速檢測(cè)獲得批處理數(shù)據(jù)（包括小麥粒數(shù)、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度或飽滿度、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等；面粉的麩星、砂石的大小和含量）。小麥品質(zhì)檢測(cè)方法符合GB5504-85《糧食、油料檢驗(yàn)小麥加工精度檢驗(yàn)法》、GB/T 27628-2011《糧油檢驗(yàn) 小麥粉粉色、麩星的測(cè)定》中的小麥粉麩星測(cè)定方法。
小麥品質(zhì)分析和面粉麩星檢測(cè)儀特點(diǎn)：
儀器由光學(xué)成像系統(tǒng)、智能分析軟件、220g量程1mg精度電子天平組成。系統(tǒng)具有的自學(xué)習(xí)能力，實(shí)現(xiàn)人性化的一鍵式智能分析，并可交互修正個(gè)別的分類錯(cuò)誤點(diǎn)，以達(dá)到正確分類結(jié)果。該分析系統(tǒng)能大批量處理，自動(dòng)分析300個(gè)以上小麥和面粉樣品的高分辨率圖像。由專業(yè)軟件分析成像后的彩色圖像，準(zhǔn)確、快速地測(cè)定小麥的粒數(shù)、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度、籽粒飽滿度（即：可按面積自動(dòng)排序及輸出）、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等指標(biāo)，以及面粉中的麩星粒數(shù)和大小、麩星面積比和對(duì)應(yīng)的砂石占比。軟件能讓用戶實(shí)時(shí)看到真實(shí)樣品分析過程情況，并交互修正；當(dāng)面粉指標(biāo)偏離設(shè)定參數(shù)時(shí)，可報(bào)警顯示；用戶可隨意查詢檢測(cè)結(jié)果，并打印。所有測(cè)試圖像分析結(jié)果和數(shù)據(jù)可在電腦上顯示并保存。數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，結(jié)果穩(wěn)定、重復(fù)性高；樣品可重復(fù)測(cè)試，重現(xiàn)性高。
主要性能指標(biāo)*：
? zui大分析面積：小麥為A4紙幅面；面粉為35mm×35mm
? 測(cè)量時(shí)間：小麥≤2分鐘/樣品；面粉≤1分鐘/樣品視野。
? 小麥千粒重測(cè)量重復(fù)性誤差±≤0.5%
   兩次掃描單面分析外觀品質(zhì)的重復(fù)性誤差±≤2.0%
? 可接入條碼槍來自動(dòng)刷入樣品編號(hào)，分析結(jié)果可對(duì)應(yīng)樣品編號(hào)輸出至EXCEL表，分析圖像標(biāo)記結(jié)果可保存。
儀器規(guī)格配置：
帶RS232線電子天平（220g量程、1mg精度）1臺(tái)，LED光源、zui高光學(xué)分辯率4800×9600dpi雙光源彩色掃描儀1臺(tái)，單目體視顯微鏡+300萬像素相機(jī)1套、微型手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)1套，小麥外觀品質(zhì)分析、面粉麩星檢測(cè)軟件光盤1張（含電子版操作手冊(cè)）、軟件鎖1只，籽粒收納盤1個(gè)，緊粉用面粉成像小盤1付。（電腦需另配）
儀器總尺寸、總重量：寬×深×高約50cm×40cm×12cm，～13kg。