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TR-LT-2 單晶少子壽命測試儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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 山東元創(chuàng)儀器有限公司作為國內(nèi)的儀器儀表銷售平臺,擁有龐大的產(chǎn)品數(shù)據(jù)庫和技術(shù)過硬的團(tuán)隊(duì)。其發(fā)展業(yè)務(wù)主要涉及:實(shí)驗(yàn)室檢測、環(huán)保檢測、醫(yī)療檢測、工業(yè)檢測、電力通訊檢測、無損檢測、氣體檢測等。公司始終堅(jiān)持發(fā)揚(yáng)"誠信、溝通"為企業(yè)宗旨,以"技術(shù)、"為立業(yè)之本的團(tuán)體精神,并形成一套完整的設(shè)計(jì)、安裝、調(diào)試、培訓(xùn)、維護(hù)一站式體系。

  公司憑借優(yōu)勢的網(wǎng)絡(luò)化的采購平臺,打造高品質(zhì)供應(yīng)鏈體系,完善,為客戶提供強(qiáng)有力的供貨保障。

 

 

實(shí)驗(yàn)室檢測,水質(zhì)檢測,環(huán)保檢測,醫(yī)療檢測,工業(yè)檢測,電力通訊檢測,無損檢測,氣體檢測等

濕度 < 80%

單晶少子壽命測試儀 型號: LT-2

單晶少子壽命測試儀


  是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量,是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項(xiàng)目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。

   本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計(jì),由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。
技 術(shù) 指 標(biāo) :

 測試單晶電阻率范圍 >2Ω.cm
 可測單晶少子壽命范圍 5μS~7000μS
 配備光源類型 波長:1.09μm;余輝<1 μS;
 閃光頻率為:20~30次/秒;
 閃光頻率為:20~30次/秒;
 高頻振蕩源 用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz
 前置放大器 放大倍數(shù)約25,頻寬2 Hz-1 MHz
 儀器測量重復(fù)誤差 <±20%
 測量方式 采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式
 儀器消耗功率 <25W
 儀器工作條件 溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%、使用電源:AC 220V,50Hz
 可測單晶尺寸 斷面豎測:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
 縱向臥測:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
 配用示波器 頻寬0—20MHz;
 電壓靈敏:10mV/cm;


 




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