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ENI1220 日本科佩爾 替代 易恩IPM測試儀
參考價 | ¥ 190 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 西安易恩電氣科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ENI1220
- 產(chǎn)地 陜西西安
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2018/7/21 9:44:45
- 訪問次數(shù) 475
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ENI1220 IPM 測試系統(tǒng)
日本科佩爾 替代 易恩IPM測試儀
| 系統(tǒng)概述 |
| 基礎(chǔ)配置 | ||||||||||||||||
| IPM,即智能功率模塊,是*的混合集成功率器件。一般使用IGBT作為功率開關(guān)元件,內(nèi)部集成電流傳感器及驅(qū)動電路的集成結(jié)構(gòu)。 IPM模塊需要測試的特性參數(shù)很多,其中關(guān)鍵的測試參數(shù)為開關(guān)特性(時間特性)的測量。該系統(tǒng)在解決IPM的控制信號以及高速數(shù)據(jù)采集處理兩個關(guān)鍵技術(shù)的條件下,是一套基于DSP及FPGA的高速實時測試系統(tǒng)。 |
| 電壓 | 電流 | |||||||||||||||
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| 標(biāo)配 | 選配 | 標(biāo)配 | 選配 | ||||||||||||||
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| 1200V | 1000V | 200A | 200A | ||||||||||||||
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| 2200V | 400A | ||||||||||||||||
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| 3300V | 600A | ||||||||||||||||
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| 4500V | 1000A | ||||||||||||||||
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| 6000V | 2000A | ||||||||||||||||
| 配置/短路測試 | ||||||||||||||||||
| 電壓 | 電流 | 短路測試 | ||||||||||||||||
| 標(biāo)配 | 選配 | 標(biāo)配 | 選配 | 項目 | 范圍 | 誤差 | 分辨率 | |||||||||||
| 1200V | 2200V | 200A | 400A | VPN | 100V~1200V | ±3% | 10V | |||||||||||
| 3300V | 600A | 測試電流 | 10A~75A | ±3% | 1A | |||||||||||||
| 4500V | 1000A | 短路電流 | 100A~500A | ±3% | 1A | |||||||||||||
| 6000V | 2000A | 短路時間 | 1 uS~10uS | 可調(diào) | 可調(diào) | |||||||||||||
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| 測試功能 | ||||||||||||||||||
| 測試范圍 | 測試參數(shù) | |||||||||||||||||
| IPM | BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID, UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF), ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN, OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS | |||||||||||||||||
| IGBT | ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT) | |||||||||||||||||
| DIODE | VF-Temp, Temp, VF revision | |||||||||||||||||
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| 參數(shù) / 精度 | ||||||||||||||||||
| 靜態(tài)參數(shù) |
| 動態(tài)參數(shù) | ||||||||||||||||
| 上橋IGBT/FRD漏電流測試(Ices-H) | 上 橋 開 關(guān) 參 數(shù) | 集電極電壓Vce: 100~1200V, | 誤差±3%,分辨率10V | |||||||||||||||
| 上橋IGBT/FRD耐壓測試(Bvce-H) | ||||||||||||||||||
| 上橋驅(qū)動IC低端靜態(tài)電流測試(IDH) | 集電極電流Ice: 10~75A, | 誤差±3%,分辨率1A | ||||||||||||||||
| 上橋驅(qū)動IC靜態(tài)工作電流測試 (Iqbs-U,V,W) | ||||||||||||||||||
| VD=VBS=15V, | 誤差±3%,分辨率0.1V | |||||||||||||||||
| 上橋欠壓保護(hù)監(jiān)測電平 (UVbsd-U V W) | VIN=0~5V | 誤差±3%,分辨率0.1V | ||||||||||||||||
上橋欠壓保護(hù)復(fù)位電平(UVbsr-U V W) | ton-L : 10~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 上橋驅(qū)動IC導(dǎo)通閾值電壓測試 (Vth(on)-UH VH WH) | tc(on)-L :5~200nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| toff-L: 50~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 上橋驅(qū)動IC關(guān)斷閾值電壓測試 (Vth(off)-UH VH WH) | tc(off)-L: 5~200nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| Trr-L :10~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 上橋IGBT飽和電壓測試(Vce(sat)-UH VH WH) | Eon-L :0.1~10mJ, | 誤差±3%,分辨率0.1mJ | ||||||||||||||||
| 上橋FRD正向壓降測試(VF-(UH VH WH) | Eoff-L: 0.1~10mJ | 誤差±3%,分辨率0.1mJ | ||||||||||||||||
| 下橋IGBT/FRD漏電流測試(Ices-L) | 下 橋 開 關(guān) 參 數(shù) | 集電極電壓Vce: 100~1200V, | 誤差±3%,分辨率10V | |||||||||||||||
| 下橋驅(qū)動IC靜態(tài)工作電流測試(IDL) | ||||||||||||||||||
| 故障輸出電壓測試(Vfoh Vfol) | 集電極電流Ice: 10~75A, | 誤差±3%,分辨率1A | ||||||||||||||||
| 過流保護(hù)閾值電壓測試(Vcin(ref)) | ||||||||||||||||||
| 下橋欠壓保護(hù)監(jiān)測電平(UVdd) | VD=VBS=15V, | 誤差±3%,分辨率0.1V | ||||||||||||||||
| 下橋欠壓保護(hù)復(fù)位電平(UVdr) | VIN=0~5V | 誤差±3%,分辨率0.1V | ||||||||||||||||
| 下橋驅(qū)動IC導(dǎo)通閾值電壓 (Vth(on)-UL VL WL) | ton-L : 10~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| tc(on)-L :5~200nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 下橋驅(qū)動IC關(guān)斷閾值電壓 (Vth(off)-UL VL WL) | toff-L: 50~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| tc(off)-L: 5~200nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 下橋IGBT飽和電壓測試(Vce(sat)-UL VL WL) | Trr-L :10~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| 下橋FRD正向壓降測試(VF-(UL VL WL) | Eon-L :0.1~10mJ, | 誤差±3%,分辨率0.1mJ | ||||||||||||||||
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| Eoff-L: 0.1~10mJ | 誤差±3%,分辨率0.1mJ |