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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>其它分析儀器>其它通用分析>20/30 PV™ 20/30PV ™ 顯微分光光度計

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20/30 PV™ 20/30PV ™ 顯微分光光度計

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顯微分光光度計

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  20/30 PV™顯微分光光度計是為滿足您的嚴格需求而設(shè)計的定制儀器。強大的模塊化系統(tǒng)結(jié)合了多種光譜技術(shù),20/30 PV™代表了顯微分光光度計的*標準。

20/30 PV™具有從遠紫外到近紅外的光譜范圍,能夠通過吸光度、反射率、動力學(xué)、偏振、熒光和光致發(fā)光來測量亞微米樣品的光譜,還提供拉曼、薄膜厚度測量和5D Mapping。

      令人難以置信的是,該系統(tǒng)還能夠進行高分辨率的紫外 - 可見 - 近紅外成像。結(jié)合新的工程進展,20/30 PV™采用了新的Lightblades™光譜儀,這是專門為高性能顯微分光光度計設(shè)計的技術(shù)。20/30 PV™將*的光學(xué)、軟件、硬件和Lightblades™集成到功能強大且靈活的儀器中,作為一個模塊化、耐用但易于使用的系統(tǒng),20/30 PV™是*的工具,可以得到您需要的結(jié)果。

                            20/30PV ™ 顯微分光光度計   

20/30 PV™參數(shù)

光譜學(xué)類型 紫外-可見-近紅外吸光度,反射率,熒光,光致發(fā)光,偏振 
顯微拉曼 可選Apollo II™ 
薄膜厚度 ≥15nm 
微動力 可選 
5D Mapping 可選 
微比色法 可選 
光譜范圍 200-2500nm 
成像范圍 深紫外線到近紅外 
熒光激發(fā) 250-546nm 
熒光發(fā)射 300-1000nm 
探測器類型Lightblades™
探測器 CCD和inGaAs陣列 
探測器冷卻 TE制冷 
光譜分辨率 1-15nm 
采樣面積 1-10000µm²  
 


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