THz-NeaSNOM 太赫茲近場光學(xué)顯微鏡
- 公司名稱 QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易(北京)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 THz-NeaSNOM
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/4/18 10:44:47
- 訪問次數(shù) 3427
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子,電氣,綜合 |
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太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 THz-NeaSNOM---30nm光學(xué)信號空間分辨率
產(chǎn)品簡介:
太赫茲(THz)光源波長較大,般在300微米左右。由于衍射限的存在,THz遠場測量系統(tǒng)的光學(xué)空間分辨率般被限制在150微米左右。該THz光遠場測量結(jié)果的準確度經(jīng)常無法滿足對材料科學(xué)研究,尤其是需要納米分辨率的微細尺度材料分布研究(例如半導(dǎo)體芯片中各個組成:源,漏,柵)的實驗。THz-NeaSNOM近場光學(xué)顯微鏡的出現(xiàn)為此難題提供了個很好的解決方案。
德國neaspec公司與Fraunhofer IPM在neaspec公司neaSNOM近場光學(xué)顯微鏡的基礎(chǔ)上,已經(jīng)成功研發(fā)了套易用使用且THz系統(tǒng)的空間分辨率達到30nm的實驗設(shè)備。
太赫茲近場光學(xué)顯微鏡THz-NeaSNOM主要技術(shù)參數(shù)與點:
| +于30nm的空間分辨率 |
應(yīng)用案例:
THz-NeaSNOM 30nm空間分辨率
THz-NeaSNOM近場光學(xué)顯微鏡(下圖左)對半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的測量結(jié)果圖。
該結(jié)果表明硅襯底(上圖左,灰色)上的SiO(氧化硅)的尺寸大約在1.5×1 平 方微米。通過分析左側(cè)的高度數(shù)據(jù),可以知道該氧化硅結(jié)構(gòu)僅僅只有大約22納米厚度。雖然該層狀結(jié)構(gòu)非常薄,但THz-NeaSNOM近場光學(xué)顯微鏡(下圖左)在測量高度的同時仍然能夠記錄該結(jié)構(gòu)與襯底的近場光學(xué)信號的明顯不同襯度的結(jié)果。該THz-NeaSNOM近場光學(xué)顯微鏡不僅在測量非常薄樣品的時 候靈敏度非常高,而且通過分析近場光學(xué)信號數(shù)據(jù)(下圖右)也證實了它超高的空間分辨率(~25-30nm)。
表征半導(dǎo)體器件 Nature 456,454(2008) | 超快機制研究納米線 Nature Photonics 8,841(2014) |
測試數(shù)據(jù)
表征半導(dǎo)體器件 Nature 456,454(2008)
超快機制研究納米線 Nature Photonics 8,841(2014)
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neaspec公司產(chǎn)品以其穩(wěn)定的性能、*的空間分辨率和良好的用戶體驗,得到了國內(nèi)外眾多科學(xué)家的認可和肯定......
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