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Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon

Bruker公司的AFM具有多項(xiàng)zhuan  li技術(shù)，以其的性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域

Dimension Icon 系列作為布魯克公司(Bruker AXS)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項(xiàng)行業(yè)*的zhuan  li技術(shù)，是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶(hù)反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。

應(yīng)用：

應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測(cè)量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤(pán)存儲(chǔ)，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測(cè)等各類(lèi)科研和生產(chǎn)工作。

原理：

將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖*原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過(guò)在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對(duì)應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。利用光學(xué)檢測(cè)法或隧道電流檢測(cè)法，可測(cè)得微懸臂對(duì)應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來(lái)分類(lèi)的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。

特征：

1. 低漂移和低噪音水平
2. 配置有專(zhuān)有ScanAsys原子成像優(yōu)化技術(shù)，可以簡(jiǎn)易快速穩(wěn)定成像
3. 測(cè)試樣品尺寸可達(dá)：直徑210mm，厚度15mm
4. 溫度補(bǔ)償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級(jí)和埃級(jí)水平，并呈現(xiàn)出*的高分辨率。
5. 全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。
6. 探針和樣品臺(tái)的開(kāi)放式設(shè)計(jì)使Icon 可勝任各種標(biāo)準(zhǔn)和非標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)。
7. 良好的布魯克AFM的模式和技術(shù)，如高次諧波共振模式，和獨(dú)有的不失真高溫成像技術(shù)--采用對(duì)針尖和樣品同時(shí)加熱的方法，zui da減少針尖和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。

部分選擇項(xiàng)：