370B 供應(yīng)泰克370B晶體管測(cè)試儀TEK370B

供應(yīng)泰克370B晶體管測(cè)試儀TEK370B
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供應(yīng)泰克370B晶體管測(cè)試儀TEK370B
詳細(xì)說明 
TEK370A晶體管測(cè)試儀TEK370B主要參數(shù)：·半導(dǎo)體器件高精度測(cè)量
-上限達(dá)2000V或電流到10A的源（370A） -上限到3000V（371A） -上限到220W（370A） -上限到400A（371A） -1nA的測(cè)量分辨率 -上限到3000W（371A） ·上限到2mV的測(cè)量分辨率（370A） ·波形對(duì)比 ·包絡(luò)顯示 ·波形平均 ·點(diǎn)光標(biāo)（370A） ·Kelvin傳感測(cè)量 ·全程控 ·MS-DOS兼容的軟盤，方便設(shè)置參孝存儲(chǔ)和調(diào)用應(yīng)用手動(dòng)或自動(dòng)進(jìn)行半導(dǎo)體高分辨率DC參數(shù)測(cè)量來(lái)料檢查生產(chǎn)測(cè)試過程監(jiān)視及質(zhì)量控制數(shù)據(jù)報(bào)告的生成元件配對(duì)失效分析工程測(cè)試交互式程控所有交互式程控測(cè)量是通過有鮮明特點(diǎn)的前面板或GPIB來(lái)完成的。使用幾種存儲(chǔ)方式，調(diào)整和存儲(chǔ)操作參數(shù)，包括370A的非易失存儲(chǔ)器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。測(cè)試夾具測(cè)試夾具是標(biāo)準(zhǔn)附件，它提供被測(cè)器件安全防護(hù)，以保護(hù)測(cè)量人員的安全。測(cè)試夾具適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的A1001，中間通過Kelvin傳感的A1005適配器、無(wú)Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。 370A程控特性曲線圖示儀 370A是全球著名的高分辨率特性曲線圖示儀，可應(yīng)用到許多場(chǎng)合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、光電元件、太陽(yáng)能電池、固態(tài)顯示和其它半導(dǎo)體器件的直流參數(shù)特性的測(cè)試。在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，用370A來(lái)完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報(bào)告這些具體的測(cè)試工作在制造過程中，用370A檢驗(yàn)器件質(zhì)量及過程監(jiān)視。 370A可進(jìn)行來(lái)料檢查、器件性能測(cè)試、失效分析和器件配對(duì)這些測(cè)試工作。技術(shù)指標(biāo) 集電極電源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范圍 大峰值電流（±） 峰值電流（脈沖式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.0 0.1A 階梯信號(hào)發(fā)生器 模式 階梯：DC,80μS脈沖，300μS脈沖 階梯量程-   電流： 50nA到200mA，按1-2-5順序 電壓： 50mV到2V，按1-2-5順序 偏置 大到±10X階梯幅度 階梯數(shù) 0到10 測(cè)量特性 集電極電流-   測(cè)試量程： 100nA/div（1nA分辨率）2A/div誤差，1.5%光標(biāo)讀出+0.05div設(shè)定值（點(diǎn)光標(biāo)） 發(fā)射極電流-   測(cè)試量程： 1nA/div（10pA分辨率）2mA/div 誤差 1.5%光標(biāo)讀出+0.05div設(shè)定值+1nA 安全標(biāo)準(zhǔn) UL1244，CSA231，H
The Tektronix 370B Curve Tracer is the world standard for high resolution curve tracers. the Tek 370B provides up to 20 A / 2000 V sourcing capability combined with 1 pA and 50 μV measurement resolution. The Tektronix 370B performs DC parametric characterization of integrated circuits, transistors, thyristors, diodes, SCRs, MOSFETs, electro-optic components, solar cells, solid-state relays and other semiconductor devices. It has pushbutton source and measurement configuration so it's easy to change from one test to the next.
The Tek 370B is used in a wide variety of applications including:
Parametric Characterization of Semiconductors
Failure Analysis 
Data Sheet Generation
Manufacturing Test
Process Monitoring and Quality Control
Incoming Inspection
Component Matching
Features of the Tektronix 370B curve tracer include:
High resolution DC Parametric Measurements (Resolution Down to 1 pA or 2 μV) 
 Built in Cursor Measurements: Dot, Window and Function Line
Kelvin Sense Measurements
Sweep Measurement Mode
Waveform Comparison & Averaging
Fully Programmable

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