普林斯頓VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/7/18 12:22:48
- 訪問次數(shù) 4545
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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月，是國家高業(yè)，廣州科技小巨人企業(yè)，并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌（股權(quán)代碼：892081），通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系，擁有近20項(xiàng)國家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域，自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測(cè)量儀，顯微拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見分光光度計(jì)，積分球式透反射率測(cè)試儀等。具備光學(xué)設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系，并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長期實(shí)習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平，未來面向市場(chǎng)。
貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號(hào)，貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo)，為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工，陪伴科學(xué)家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家，例如：日本Hitachi，德國WITec,德國Bruker，英國OXFORD，美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國臺(tái)灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù)。
我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè)，更貼心的服務(wù)。
我們的優(yōu)勢(shì)和專注點(diǎn)集中于材料測(cè)試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測(cè)試服務(wù)，其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。
材料分析領(lǐng)域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國臺(tái)灣超微光學(xué)）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測(cè)量儀、在線測(cè)厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 電化學(xué)工作站 |
普林斯頓VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
概要
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的，進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。
普林斯頓VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
它是提供給電化學(xué)及材料測(cè)試以*空間分辨率的一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率，長工作距離的閉環(huán)定位系統(tǒng)并安裝于抗震光學(xué)平臺(tái)上。不同的輔助選件都安裝于定位系統(tǒng)上，輔助選件包括，如電位計(jì)，壓電振動(dòng)單元，或者激光傳感器，為不同掃描探針試驗(yàn)，定位系統(tǒng)提供不同的功能。VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統(tǒng)整合在一起，由以太網(wǎng)來控制，保證小信號(hào)的精確測(cè)量。
它 是一個(gè)模塊化配置的系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)如下現(xiàn)今所有微區(qū)掃描探針電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區(qū)形貌測(cè)試：
Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡
Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 掃描振動(dòng)電極測(cè)試
Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開爾文探針測(cè)試
Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試
Scanning Droplet Cell (SDC) 掃描電解液微滴測(cè)試
Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測(cè)試
以上每項(xiàng)技術(shù)使用不同的測(cè)量探針，且安裝位置與樣品非常接近，但是不接觸到樣品。隨著探針測(cè)試的進(jìn)行，改變探針的空間位置。然后將所記錄的數(shù)據(jù)對(duì)探針位置作圖，針對(duì)不同技術(shù)，該圖可以呈現(xiàn)微區(qū)電化學(xué)電流，阻抗，相對(duì)功函或者是表面形貌圖。
VersaSCAN SECM
Scanning ElectroChemical Microscopy 掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)
VersaSCAN SECM 整合了定位系統(tǒng)、兩臺(tái)VersaSTAT恒電位儀和錐形拋光的超微電極探針為一體。SECM多樣化的技術(shù)提供了高空間分辨率，可應(yīng)用于反應(yīng)動(dòng)力學(xué)，生物傳感器，催化劑和腐蝕機(jī)理等研究。
兼容恒電位儀: VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
可進(jìn)行逼近曲線實(shí)驗(yàn)包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。
結(jié)合了表面形貌測(cè)量技術(shù)，如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP，可進(jìn)行樣品表面定距離掃描，
VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件，能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測(cè)試，取決于其*的軟件模式。
VersaSCAN SVET
Scanning Vibrating Electrode Technique 掃描振動(dòng)電極測(cè)量系統(tǒng)
VersaSCAN SVET 整合了定位系統(tǒng)及鎖相放大器技術(shù)(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動(dòng)模塊, 電位計(jì)和單絲探針。 SVET技術(shù)測(cè)量溶液中的電壓降。電解液中的電壓降是由樣品表面的局部電流所導(dǎo)致的。 SVET提供高分辨率可應(yīng)用于不均勻腐蝕，點(diǎn)蝕，焊接和電耦合等。此外，SVET還有生物方面的應(yīng)用。
鎖相放大器: Signal Recovery 7230
可進(jìn)行線掃描和面掃描
當(dāng)設(shè)定不同的測(cè)量時(shí)間測(cè)量，可進(jìn)行時(shí)間分辨成像
結(jié)合了表面形貌測(cè)量技術(shù)，如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP，可進(jìn)行樣品表面定距離掃描，
VersaSCAN LEIS
Localized Electrochemical Impedance System 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試系統(tǒng)
VersaSCAN LEIS 整合了 定位系統(tǒng)和VersaSTAT 3F 及差分電壓選項(xiàng), 靜電計(jì)，雙探頭探針。 LEIS技術(shù)是通過測(cè)量施加于樣品的交流電壓和由探針?biāo)鶞y(cè)量的溶液中交流電流的比值，來計(jì)算局部阻抗，LEIS加入高的空間分辨率，可應(yīng)用于有機(jī)涂層，裸露的金屬腐蝕，和所有和增加的交流技術(shù)相關(guān)的應(yīng)用。
恒電位儀：VersaSTAT 3F及差分輔助選項(xiàng)
可進(jìn)行固定頻率/掃描位置的數(shù)據(jù)成像，和固定位置/掃描頻率的Bode圖或者Nyquist圖。
當(dāng)設(shè)定不同的測(cè)量時(shí)間測(cè)量，可進(jìn)行時(shí)間分辨成像
結(jié)合了表面形貌測(cè)量技術(shù)，如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP，可進(jìn)行樣品表面定距離掃描，
VersaSCAN SKP
Scanning Kelvin Probe 掃描開爾文探針系統(tǒng)
VersaSCAN SKP整合定位系統(tǒng)及鎖相放大器技術(shù)(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動(dòng)模塊, 電位計(jì)和鎢絲探針。SKP 技術(shù)測(cè)量探針和樣品表面位置的相對(duì)功函差。這是一個(gè)非破壞的技術(shù)，可運(yùn)行于環(huán)境氣氛，潮濕氣氛和無電解液情況下。相對(duì)功函已經(jīng)被證實(shí)與腐蝕電位 (Ecorr)相關(guān)。SKP 提供的高空間分辨率可應(yīng)用于材料，半導(dǎo)體，金屬腐蝕，甚至這些材料上的涂層。
鎖相放大器: Signal Recovery 7230
可進(jìn)行表面形貌測(cè)量，測(cè)量和設(shè)置探針和樣品間的距離。
使用同一探針，結(jié)合所進(jìn)行的表面形貌測(cè)量，進(jìn)行樣品表面定距離掃描。
VersaSCAN SDC
Scanning Droplet Cell 電解液微滴掃描系統(tǒng)
VersaSCAN SDC 整合電位系統(tǒng)和一臺(tái)VersaSTAT, 一個(gè)機(jī)械加工的PTFE 滴液系統(tǒng)頭, 以及一個(gè)蠕動(dòng)泵。SDC 技術(shù)對(duì)電解液微滴進(jìn)行電化學(xué)測(cè)量, 固定電極/電解液界面的面積。SDC提供高空間分辨率可應(yīng)用于動(dòng)力學(xué)，腐蝕，流體研究和任何研究樣品表面微小面積而無需破壞樣品的應(yīng)用或者控制面積在不同電解液中的暴露時(shí)間的應(yīng)用。
恒電位儀: VersaSTAT 3 / 3F /4
可進(jìn)行恒定電化學(xué)參數(shù)/位置掃描的數(shù)據(jù)成圖和固定位置/動(dòng)態(tài)信號(hào)的繪圖，如循環(huán)伏安，塔菲爾, 電化學(xué)交流阻抗等。
可運(yùn)行流動(dòng)或者是靜止的電解液液滴。
VersaSCAN OSP
Non-Contact Optical Surface Profiling 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測(cè)試系統(tǒng)
VersaSCAN OSP整合定位系統(tǒng)和高精度，高速度激光位移傳感器。 OSP 技術(shù)使用漫反射機(jī)理用于樣品的表面形貌。OSP可作為非常靈敏水平的機(jī)制用于表面形貌測(cè)量，，或繪制地形圖與其它掃描探針技術(shù)一起應(yīng)用于樣品表面定距離掃描測(cè)試。
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