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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>X射線熒光測厚儀>XTU-4C 一六儀器X熒光光譜測厚儀

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XTU-4C 一六儀器X熒光光譜測厚儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 江蘇一六儀器有限公司-J
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 XTU-4C
  • 產(chǎn)地 江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)成功路168號一六儀器
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2019/1/30 15:52:56
  • 訪問次數(shù) 292
產(chǎn)品標(biāo)簽

標(biāo)準(zhǔn)片測厚儀

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江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的*。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、*的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、*等制造領(lǐng)域。*的技術(shù),專業(yè)的團(tuán)隊,嚴(yán)格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。

測厚儀、標(biāo)準(zhǔn)片

價格區(qū)間 面議

品牌 :

一六儀器

型號 :

XTU-4C

加工定制 :

類型 :

鍍層測厚儀

測量范圍 :

氯Cl(17)- U(92)鈾

顯示方式 :

數(shù)據(jù)電腦顯示

電源電壓 :

220V

外形尺寸 :

500x480x470mm

厚度低檢出限 :

0.005um

大功率 :

300w

對焦距離 :

0-99mm

環(huán)境溫度 :

15°C-30°C

產(chǎn)品詳情

Product details

一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖1

 

儀器簡介

       XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。

   搭配微聚焦射線管和*的光路設(shè)計,以及變焦算法裝置,可測試極微小和異形樣品。

   檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。

   外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動,移動精度0.005mm,速度10-30mmX-Y/圈,再小再多的樣品測試都沒有難度,讓操作人員輕松自如。

 

 

 一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖2 一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖3 一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖4 一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖5  一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖6 一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖7
 

應(yīng)用領(lǐng)域

   線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

   鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

   手表、精密儀表制造行業(yè)

   釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

   汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

   衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

   電鍍液的金屬陽離子檢測 

性能優(yōu)勢:

   下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm.

   微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。

   高效率的接收器:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

   精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。

   EFP*算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

 

        一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖8一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖9一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖10一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖11

 

  

一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖12一六XTU-4C X射線熒光光譜儀 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 凹糟測厚儀示例圖13

 

項       目參        數(shù)
測量元素范圍Cl(17)-U(92)
涂鍍層分析范圍各種元素及有機(jī)物
分析軟件EFP,可同時分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析
軟件操作人性化封閉軟件,自動提示校正和步驟,避免操作錯誤
X射線裝置W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管
準(zhǔn)直器Ø 0.05 mm  ;Ø 0.1 mm;Ø 0.2 mm;Ø 0.5 mm;四準(zhǔn)直器自動切換
近測距光斑擴(kuò)散度10
測量距離具有距離補(bǔ)償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察1/2.5彩色CCD,變焦功能
對焦方式高敏感鏡頭,手動對焦
放大倍數(shù)光學(xué)38-46X,數(shù)字放大40-200倍
樣品臺尺寸500mm*360mm
移動方式高精密XY手動滑軌
可移動范圍50mm*50mm
隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱

 



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