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HJ-M2400 EL檢測(cè)儀器光伏發(fā)電站檢測(cè)設(shè)備

參考價(jià) 40000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 江蘇華晶新能源有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) HJ-M2400
  • 產(chǎn)地 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2019/2/22 10:33:03
  • 訪問(wèn)次數(shù) 268

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公司是致力于太陽(yáng)能檢測(cè)及自動(dòng)化設(shè)備的科技企業(yè),研發(fā)生產(chǎn): EL檢測(cè)儀,色差分選,EL缺陷檢測(cè)儀,太陽(yáng)能電池片測(cè)試儀,太陽(yáng)能組件測(cè)試儀,電池片分選機(jī)EL檢測(cè)儀,電池片色差分選,IV測(cè)試儀,太陽(yáng)能電池片分選機(jī),電池片色差分選,電池片EL檢測(cè)儀,組件EL檢測(cè)儀,便攜式組件EL檢測(cè)儀,電站EL測(cè)試儀,便攜式電站組件EL檢測(cè)儀,為您提供太陽(yáng)能組件光伏檢測(cè)及太陽(yáng)能電池片檢測(cè)分選的的完整解決方案。屋頂太陽(yáng)能電站建設(shè),家用分布式光伏發(fā)電,便攜式光伏電池板檢測(cè)儀。近年來(lái),光伏EL檢測(cè)設(shè)備及逐漸成為本公司的重點(diǎn)產(chǎn)品之一,它以產(chǎn)品規(guī)格靈活多變、價(jià)格低廉適中、性能穩(wěn)定可靠等諸多優(yōu)勢(shì)深受新老客戶的好評(píng)!

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議

便攜式EL檢測(cè)設(shè)備HJ-M2400

 

● 產(chǎn)品詳情

 

   產(chǎn)品名稱:便攜式EL測(cè)試儀

 

   產(chǎn)品型號(hào):HJ-M2400

 

   產(chǎn)品應(yīng)用:用于光伏電站現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)維檢測(cè)、電站工程商來(lái)料組件缺陷檢測(cè)等。

 

 

 

● 產(chǎn)品特點(diǎn)

 

  1、產(chǎn)品體量小、輕便、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、安裝方便。

 

  2、可在平板電腦、電腦或手機(jī)端安排測(cè)試APP后進(jìn)行一鍵式快速拍照。

 

  3、自動(dòng)對(duì)焦,WIFI傳輸。

 

  4、2400萬(wàn)高像素,缺陷檢測(cè)圖像清晰、放大后細(xì)節(jié)處*展現(xiàn)、一目了然。

 

 

 

● 產(chǎn)品功能

 

   用于檢測(cè)組件(太陽(yáng)能板)內(nèi)部各種缺陷:斷柵、隱裂、破片、碎片、虛焊、燒結(jié)網(wǎng)紋、黑芯、黑邊、混檔、低效率片、邊緣過(guò)刻、PID、衰減、熱斑衰減等。

 

 

 

● 產(chǎn)品參數(shù)

 

分辨率:2400萬(wàn)像素

 

成像時(shí)間:1~30秒

 

測(cè)試周期:20秒

 

相機(jī)品牌:尼康(索尼芯片)

 

檢測(cè)缺陷:工藝污染、材料缺陷、隱裂、碎片、斷柵、缺焊、低效率片等

 

拍照方式:相機(jī)、平板

 

檢測(cè)對(duì)象:太陽(yáng)能電池組件

 

檢測(cè)對(duì)象大小:2000×1000mm

 

測(cè)試電流/電壓:0~10A/0~60V

 

帳篷尺寸:2200×1850×1300mm

 

設(shè)備工作環(huán)境:﹣15℃~﹢40℃(溫度)20%~60%(濕度)

 

設(shè)備放置環(huán)境:﹣15℃~﹢40℃(溫度)5%~85%(濕度)

 

 

便攜式EL檢測(cè)儀是一款專注于檢測(cè)光伏電站及移動(dòng)式組件標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)設(shè)備,在白天夜晚均可準(zhǔn)確檢測(cè)出光伏太陽(yáng)能板內(nèi)部質(zhì)量缺陷問(wèn)題,包括:斷柵、隱裂、破片、碎片、虛焊、燒結(jié)網(wǎng)紋、黑芯、黑邊、混檔、低效率片、邊緣過(guò)刻、PID、衰減、熱斑衰減等參數(shù),攜帶方便,操作簡(jiǎn)單。

 

 

 

檢測(cè)對(duì)象:

 

單組件檢測(cè) 支架上組件測(cè)試 室內(nèi)組件測(cè)試

 

室外組件測(cè)試 燈光下組件測(cè)試 白天組件測(cè)試

 

晶硅組件測(cè)試 薄膜組件測(cè)試 CIGS組件測(cè)試

 

 

 

弱電流測(cè)試:

 

高電流測(cè)試 6~10A   高電流隱裂缺陷測(cè)試

 

低電流測(cè)試 0.1~5A  弱電流衰減測(cè)試(可進(jìn)行0.1A檢測(cè)成像)



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