GDAT-A 高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀
參考價 | ¥ 1000 |
訂貨量 | ≥1 盒 |
- 公司名稱 上海群弘儀器設備有限公司
- 品牌
- 型號 GDAT-A
- 產地
- 廠商性質 其他
- 更新時間 2024/3/14 11:14:02
- 訪問次數(shù) 1851
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高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀
滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀
一、 概述
介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數(shù)值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
二、儀器的技術指標
1.Q值測量范圍:2~1023
2.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
3.電感測量范圍:14.5nH~8.14H 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
4.電容直接測量范圍:1~460pF
5.主電容調節(jié)范圍: 30~500pF
6.電容準確度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1% 7.信號源頻率覆蓋范圍10KHz-60MHz或200KHz-160MHz
8、型號頻率指示誤差:3*10-5 ±1
Q值合格指示預置功能范圍:5~1000
9.Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
10.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
11.產品配置:
a.測試主機一臺;
b.電感一套;
c.夾具一 套
三、性能特點:
1. 平板電容器
極片尺寸:φ25.4mmφ50mm
極片間距可調范圍和分辨率:≥10mm,±0.01mm
2. 園筒電容器
電容量線性:0.33pF / mm±0.05 pF
長度可調范圍和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm
3. 夾具插頭間距:25mm±1mm
4. 夾角損耗角正切值:≤4×10-4(1MHz時)
四. 工作原理
本測試裝置是由二只測微電容器組成,平板電容器一般用來夾持被測樣品,園筒電容器是一只分辨率高達0.0033pF的線性可變電容器,配用儀器作為指示儀器,絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化,由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時,由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。
五. 維修保養(yǎng)
本測試裝置是由精密機械構件組成的測微設備,所以在使用和保存時要避免振動和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測試夾具受到碰撞,或者作為定期檢查,要檢測以下幾個指標:
1. 平板電容器二極片平行度不超過0.02mm。
2. 園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。
3. 保證二個測微桿0.01mm分辨率。
4. 用精密電容測量儀(±0.01pF分辨率)測量園筒電容器,電容呈線性率,從0~20mm,每隔1mm測試一點,要求符合工作特性要求。
BH916測試裝置 GDAT高頻Q表
平板電容極片 Φ50mm/Φ25.4mm 可選頻率范圍10KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調節(jié)范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm 主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz) Q測試范圍2~1023
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